[发明专利]一种压电陶瓷的面波分析刮除黑化粉末的检测系统

说明书

本发明公开了一种压电陶瓷的面波分析刮除黑化粉末的检测系统，其结构包括操作面板、压电陶瓷头，操作面板与面波分析箱间隙配合，由外力对其压电陶瓷头进行按压，其压电陶瓷头往下按压时，会先接触到压迫杆其压电陶瓷头下来的第一时间会先接触到凸头，能够兜住外界所承受的力往内输送，让凸头能够顺利的往下摆动，当半软层伸展到一定程度时，软鼓吸膜将会跟随贴附于表面进行移动，用来兜住内部的内鼓口，主要承受外力，当软鼓吸膜在移动产生形变中由弧间角对其之间的弯曲进行防护，所产生的弯曲程度由囊鼓球兜住，让外侧的推角对其黑尘进行刮除，能够在压电陶瓷在被压迫前，先将上表面的黑尘进行刮除，让其不会影响其的压电效果。

技术领域

本发明属于压电材料领域，更具体地说，尤其是涉及到一种压电陶瓷的面波分析刮除黑化粉末的检测系统。

背景技术

压电陶瓷的面波分析设备，需要通过外界的力对其压电陶瓷进行施力，让其压电陶瓷受到压迫，从而产生一定的传递与变化，让设备开始运行操作。

基于上述本发明人发现，现有的压电陶瓷的面波分析的检测系统主要存在以下几点不足，比如：

当外力对压电陶瓷进行压迫运行时，其自身的温度会有所升高，与压迫的外物接触会产生一定的反应发黑，置一段时间后便会形成粘附的粉末状着附于表面，在其长时间堆积后，会影响其的使用效果。

因此需要提出一种压电陶瓷的面波分析刮除黑化粉末的检测系统。

发明内容

为了解决上述技术当外力对压电陶瓷进行压迫运行时，其自身的温度会有所升高，与压迫的外物接触会产生一定的反应发黑，置一段时间后便会形成粘附的粉末状着附于表面，在其长时间堆积后，会影响其的使用效果的问题。

本发明一种压电陶瓷的面波分析刮除黑化粉末的检测系统的目的与功效，由以下具体技术手段所达成：

其结构包括操作面板、压电陶瓷头、边框、检测衔接口、面波分析箱。

所述操作面板与面波分析箱间隙配合，所述面波分析箱外表面安装有边框，所述检测衔接口嵌入于面波分析箱内部，所述压电陶瓷头安装于面波分析箱内部。

所述压电陶瓷头包括压电陶瓷、衔接条、兜粉槽、压迫杆，所述压迫杆抵在压电陶瓷上表面，所述压迫杆与兜粉槽相连接，所述衔接条安装于压电陶瓷外表面。

作为本发明的进一步改进，所述压迫杆包括倾向内杆、夹角球、半软层、展叠角、曲型钩、贴推角，所述夹角球嵌入于半软层内部，所述倾向内杆位于半软层内部，所述展叠角贴合于半软层内壁，所述曲型钩设于贴推角上方，所述倾向内杆设有三个，所述夹角球为球体结构。

作为本发明的进一步改进，所述贴推角包括囊鼓球、小吸头、推角、固头、隔层，所述囊鼓球安装于推角与小吸头之间，所述固头嵌入于隔层内部，所述囊鼓球为球体结构，所述推角设有两个。

作为本发明的进一步改进，所述曲型钩包括弧曲叠、反钩芯、顺弧条、内卡三角、凸头、扩端头，所述弧曲叠与扩端头相连接，所述反钩芯与顺弧条为一体化结构，所述内卡三角嵌入于扩端头内部，所述扩端头安装于凸头内部，所述弧曲叠设有三个，所述内卡三角设有三个。

作为本发明的进一步改进，所述小吸头包括弧间角、内搭条、内鼓口、软鼓吸膜、助粘球，所述弧间角贴合于软鼓吸膜外壁，所述软鼓吸膜与内搭条相连接，所述内鼓口嵌入于软鼓吸膜内部，所述助粘球与软鼓吸膜相连接，所述助粘球为椭圆形结构，所述内鼓口设有三个，所述弧间角设有两个。

作为本发明的进一步改进，所述顺弧条包括倾向软条、衔条、椭球、外兜层，所述倾向软条嵌入于外兜层内部，所述衔条与椭球相连接，所述椭球设有四个且为椭圆形结构，所述倾向软条呈弧条结构。

与现有技术相比，本发明具有如下有益效果：