[发明专利]一种多线列时差扫描图像辐射一致性校正方法

权利要求书

1.一种多线列时差扫描图像辐射一致性校正方法，其特征在于，采用数量大于1个的线列进行时差扫描，每个线列由N个探测元组成，且结构一致；N为正整数；

选取其中一个线列作为基准线列，以其他线列为待校正线列；

采用基准线列进行扫描获得基准线列图像，对所述基准线列图像进行内部非均匀校正，具体包括如下步骤：

分别计算所述基准线列图像中每一个探测元扫描区域的均值m_1,k和方差σ_1,k，对所述基准线列图像进行内部非均匀性校正，校正后的基准线列图像中每一个像素的灰度值为：

其中I_1c(i,j)为所述基准线列图像中第(i,j)个像素校正后的灰度值；I_1(i,j)为所述基准线列图像中第(i,j)个像素的灰度值，m_1,i为所述基准线列图像中第i列灰度值的均值，σ_1,i为所述基准线列图像中第i列灰度值的均值；m_r为设定的第一参考均值；σ_r为设定的第二参考方差；

其中m_r和σ_r的设定方式为：

所述基准线列图像为I₁，统计I₁的直方图；

按照设定的比例去掉I₁的直方图中分布最高端和最低端的灰度值数据，得到调整直方图后的I₁；

调整直方图后的I₁的均值为m₁、方差为σ₁，以m₁为参考均值m_r和σ₁为参考方差σ_r；

或者

计算基准线列图像中每个探测元扫描区域的均值和方差，计算所有探测元扫描区域的均值的平均值为参考均值m_r，所有探测元扫描区域的均方差的平均值为参考方差σ_r；

采用所述待校正线列进行扫描获得待校正线列图像；

所述待校正线列中探测元与所述基准线列中探测元一一对应，以校正后的所述基准线列图像中每一探测元的扫描区域计算校正基准参数，对所述待校正线列图像中对应探测元的扫描区域进行校正。

2.如权利要求1所述的方法，其特征在于，以校正后的所述基准线列图像中每一探测元的扫描区域计算校正基准参数，对所述待校正线列图像中对应探测元的扫描区域进行校正，具体为：

计算校正后的基准线列图像中每一个探测元扫描区域的均值和方差，作为相应探测元的校正均值m_2r,i和校正方差σ_2r,i，即校正基准参数；

采用所述校正均值m_2r,i和校正方差σ_2r,i对所述待校正线列图像中对应探测元的扫描区域进行校正，校正后的待校正线列图像的每一个像素的灰度值为：

其中I_2c(i,j)为所述待校正线列图像中第(i,j)个像素校正后的灰度值；I_2(i,j)为所述待校正线列图像中第(i,j)个像素的灰度值，m_2,i为所述待校正线列图像中第i列灰度值的均值，σ_2,i为所述待校正线列图像中第i列灰度值的方差。