[发明专利]一种用于小尺寸屏蔽盒的磁场屏蔽效能测试方法

说明书

本发明公开了属于电磁兼容领域的一种用于小尺寸屏蔽盒的磁场屏蔽效能测试方法。首先搭建测试平台，其次使用搭建测试平台对小尺寸屏蔽盒的磁场屏蔽效能进行测试；通过该测试平台，可以较好地获得小尺寸屏蔽盒在大体积均匀磁场下的磁屏蔽特性。对于评估屏蔽盒内板卡受空间磁场骚扰的情况有较好的参考价值。

技术领域

本发明属于电磁兼容领域，特别涉及一种用于小尺寸屏蔽盒的磁场屏蔽效能测试方法。

背景技术

随着柔直技术的发展，直流断路器的应用越来越多，电压等级也越来越高。在直流断路器的开断过程中，电压和电流的急剧变化会在断路器阀塔内部和附近产生高强度的瞬态电磁场，进而对布置在阀塔上的IGBT驱动和控制电路等二次板卡产生空间电磁骚扰。阀塔中磁场的频率主要集中在1MHz以下，塔内磁场分布较为均匀，实际工程中一般通过加装金属屏蔽盒对板卡进行保护，此时屏蔽盒对内部板卡的电磁防护性能的评估就显得尤为重要。而现有的屏蔽效能测试的方法大多关注1MHz以上的磁场，不能较好覆盖阀塔内部瞬态磁场频段，且测试磁场体积相对较小，不能模拟阀塔内的大体积均匀磁场。对于现有的脉冲抗扰度实验，其采用了频段覆盖较广(DC-10MHz)的脉冲大体积均匀磁场对受试体进行测试，但其试验结果以受试设备功能丧失或性能降级程度进行评判。对于小尺寸屏蔽盒在大体积均匀测试场下的磁场屏蔽效能测试，仍缺乏较为完善的方案。

发明内容

本发明的目的是提供一种用于小尺寸屏蔽盒的磁场屏蔽效能测试方法，其特征在于，首先搭建测试平台，即用规格1m×1m的矩形单匝线圈与脉冲磁场发生器连接，组成可调向磁场线圈；将受试磁屏蔽盒置于矩形单匝线圈中央位置，探头通过RG316镀银同轴射频引线和示波器连接；探头放在受试磁屏蔽盒中心；其中，

所述受试磁屏蔽盒为200mm×200mm×40mm的小屏蔽体。

所述脉冲磁场发生器，可产生上升时间6.4μs，持续时间16μs的标准电流脉冲波形，输出电流峰值可达3.5kA；

所述探头为近场多匝探头，单向圆环形，直径50mm；

其次，所述磁场屏蔽效能测试方法包括以下步骤：

步骤一，脉冲磁场发生器连接对应的磁场线圈，打开磁场发生器，设置参数；

步骤二，用同轴射频线连接探头和示波器，设置示波器触发；

步骤二，将探头放置于磁场线圈中心位置，启动磁场发生器输出激励电流，记录探头感应波形；

步骤三，将感应探头封装在屏蔽盒内，启动磁场发生器输出激励电流，记录探头感应波形；

步骤四，将测得的时域波形用傅里叶变换分析到频域，进行屏蔽效能计算。

所述步骤一中，发生器参数设置应在不超出仪器额定参数，保证安全运行的范围内，尽量调大输出激励电流。

所述步骤二中，示波器可用公共电源供电，无需独立供电，亦无需特殊屏蔽。

所述在步骤三和步骤四中，应始终保持探头平面垂直于磁场方向，当加入屏蔽盒后，应使用泡沫对探头进行牢靠固定。

所述步骤五中，屏蔽效能计算公式为：

SE＝20log₁₀(V₀/V_s)(dB)

其中：

V₀表示未加屏蔽时的频域幅值，

V_s为加屏蔽后的频域幅值。

屏蔽曲线计算频段选择为DC-1MHz。