[发明专利]一种磁性随机存储器存储单元及磁性随机存储器在审

专利信息
申请号: 201910860738.8 申请日: 2019-09-11
公开(公告)号: CN112490353A 公开(公告)日: 2021-03-12
发明(设计)人: 张云森;肖荣福;郭一民;陈峻 申请(专利权)人: 上海磁宇信息科技有限公司
主分类号: H01L43/08 分类号: H01L43/08
代理公司: 上海容慧专利代理事务所(普通合伙) 31287 代理人: 于晓菁
地址: 201815 上海市*** 国省代码: 上海;31
权利要求书: 查看更多 说明书: 查看更多
摘要:
搜索关键词: 一种 磁性 随机 存储器 存储 单元
【权利要求书】:

1.一种具有双层自由层的磁性随机存储器存储单元,包括层叠设置的参考层、势垒层、第一自由层、覆盖层,其特征在于,在所述第一自由层上方設置一第二自由层,以及一垂直磁耦合层设置于该第二自由层的下方,和一磁阻尼阻挡层设置于该第二自由层的上方,其中所述第二自由层中的磁化矢量始终垂直于第一自由层界面,并与第一自由层中的磁化矢量平行;

所述第二自由层的结构总厚度为0.5-3.0nm,组成材料为Co/(Pt,Pd,Ni或Ir)/(CoFeB,CoB或FeB),(CoFeB,CoB或FeB)/(Pt,Pd,Ni或Ir)/Co,(CoFeB,CoB或FeB)/Co/(Pt,Pd,Ni或Ir)/Co,(CoFeB,CoB或FeB)/(Pt,Pd,Ni或Ir)/(CoFeB,CoB或FeB),Co/(Pt,Pd,Ni或Ir)/Co/(CoFeB,CoB或FeB),(CoFeB,CoB或FeB)/Co/(Pt,Pd,Ni或Ir)/Co/(CoFeB,CoB或FeB),(CoFeB,CoB或FeB)/X/Co/(Pt,Pd,Ni或Ir)/Co/X/(CoFeB,CoB或FeB),(CoFeB,CoB或FeB)/X/Co/(Pt,Pd,Ni或Ir),Co/(Pt,Pd,Ni或Ir)/Co/X/(CoFeB,CoB或FeB)多层结构制成;其中,X为W,Mo,V,Nb,Cr,Hf,Ti,Zr,Ta,Sc,Y,Zn,Ru或Os。

2.根据权利要求1所述的磁性随机存储器存储单元,其特征在于,所述第二自由层的组成材料中FeB或CoB中B的原子百分比为15%-40%;在CoFeB合金中,Co:Fe的原子比例为1:3至3:1,B的原子百分比为15%-40%。

3.根据权利要求1所述的磁性随机存储器存储单元,其特征在于,所述垂直磁耦合层用于实现所述第一自由层与第二自由层的磁性耦合,使第二自由层中的磁化矢量始终垂直于第一自由层界面,并与第一自由层中的磁化矢量平行;所述垂直磁耦合层为MgO,ZrO2,ZnO,Al2O3,GaO,Y2O3,SrO,Sc2O3,TiO2,HfO2,V2O5,Nb2O5,Ta2O5,CrO3,MoO3,WO3,RuO2,OsO2,TcO,ReO,RhO,IrO,SnO,SbO,MgZnO,MgBO,MgAlO或它们组合制成,所述垂直磁耦合层厚度为0.3nm~1.5nm。

4.根据权利要求1所述的磁性随机存储器存储单元,其特征在于,所述阻尼阻挡层提供一个垂直界面各向异性予所有第二自由层的磁化矢量,并减少整个膜层的磁阻尼系数;所述磁阻尼阻挡层为Mg,Zr,Zn,Al,Ga,Y,Sr,Sc,Ti,V,Nb,Cr,Os,Tc,Re,Rh,Ir,Sn,Sb,MgO,ZrO2,ZnO,Al2O3,GaO,Y2O3,SrO,Sc2O3,TiO2,HfO2,V2O5,Nb2O5,Ta2O5,CrO3,MoO3,WO3,RuO2,OsO2,TcO,ReO,RhO,IrO,SnO,SbO,MgZnO,MgBO及MgAlO或它们的组合物制成,所述磁阻尼阻挡层厚度为0.5nm~3.0nm。

5.根据权利要求1所述的磁性随机存储器存储单元,其特征在于,所述势垒层由非磁性金属氧化物制成,所述非磁性金属氧化物為MgO,MgZnO,MgBO,MgAlO或它们组合。

6.根据权利要求1所述的磁性随机存储器存储单元,其特征在于,所述第一自由层是由CoFeB、CoFe/CoFeB、Fe/CoFeB、CoFeB/(W,Mo,V,Nb,Cr,Hf,Ti,Zr,Ta,Sc,Y,Zn,Ru,Os,Ru,Rh,Ir,Pd,Pt)/CoFeB、Fe/CoFeB/(W,Mo,V,Nb,Cr,Hf,Ti,Zr,Ta,Sc,Y,Zn,Ru,Os,Ru,Rh,Ir,Pd,Pt)/CoFeB或CoFe/CoFeB/(W,Mo,V,Nb,Cr,Hf,Ti,Zr,Ta,Sc,Y,Zn,Ru,Os,Ru,Rh,Ir,Pd,Pt)/CoFeB结构层叠制成。

下载完整专利技术内容需要扣除积分,VIP会员可以免费下载。

该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息,商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于上海磁宇信息科技有限公司,未经上海磁宇信息科技有限公司许可,擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作,请联系【客服

本文链接:http://www.vipzhuanli.com/pat/books/201910860738.8/1.html,转载请声明来源钻瓜专利网。

×

专利文献下载

说明:

1、专利原文基于中国国家知识产权局专利说明书;

2、支持发明专利 、实用新型专利、外观设计专利(升级中);

3、专利数据每周两次同步更新,支持Adobe PDF格式;

4、内容包括专利技术的结构示意图流程工艺图技术构造图

5、已全新升级为极速版,下载速度显著提升!欢迎使用!

请您登陆后,进行下载,点击【登陆】 【注册】

关于我们 寻求报道 投稿须知 广告合作 版权声明 网站地图 友情链接 企业标识 联系我们

钻瓜专利网在线咨询

周一至周五 9:00-18:00

咨询在线客服咨询在线客服
tel code back_top