[发明专利]用于校准成像系统的系统和方法有效

专利信息
申请号: 201910861132.6 申请日: 2019-09-09
公开(公告)号: CN110960234B 公开(公告)日: 2023-07-18
发明(设计)人: 斯里克里希南·维斯瓦纳坦;阿伦·库马尔·钱德拉谢卡拉帕;纳西尔·艾哈迈德·德赛;李鑫;叶斌;丁庆勇;陈有尤 申请(专利权)人: 通用电气公司
主分类号: A61B6/00 分类号: A61B6/00
代理公司: 上海专利商标事务所有限公司 31100 代理人: 侯颖媖;钱慰民
地址: 美国*** 国省代码: 暂无信息
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摘要:
搜索关键词: 用于 校准 成像 系统 方法
【权利要求书】:

1.一种X射线成像系统,包括:

X射线源,所述X射线源操作以通过受试者传输X射线;

检测器,所述检测器操作以接收所述X射线;和

控制器,所述控制器操作以:

确定所述X射线源的位置;以及

至少部分地基于所述X射线源的视场来相对于所述检测器校准所述X射线源的所述位置;

其中所述控制器通过以下操作来相对于所述检测器校准所述X射线源的所述位置:

生成所述X射线源的所述视场的一个或多个边缘点;

相对于所述检测器的中心生成所述视场的一个或多个边缘距离;

经由将所述一个或多个边缘点与所述一个或多个边缘距离进行比较来生成一个或多个偏移值;以及

至少部分地基于所述一个或多个偏移值来调整所述视场。

2.根据权利要求1所述的X射线成像系统,其中所述一个或多个偏移值包括至少一个平移偏移值。

3.根据权利要求1所述的X射线成像系统,其中所述一个或多个偏移值包括角偏移值。

4.根据权利要求1所述的X射线成像系统,其中所述控制器至少部分地基于经由所述X射线源和所述检测器所获取的一个或多个定位图像来生成所述一个或多个边缘点和所述一个或多个边缘距离。

5.根据权利要求1所述的X射线成像系统,还包括:

一个或多个传感器;

其中所述控制器经由所述一个或多个传感器确定所述X射线源的所述位置。

6.根据权利要求5所述的X射线成像系统,其中所述一个或多个传感器包括超声传感器、激光器、相机和红外传感器中的至少一者。

7.一种校准X射线成像系统的方法,所述方法包括:

确定所述系统的操作以通过受试者传输X射线的X射线源的位置;以及

至少部分地基于所述X射线源的视场来相对于所述系统的检测器校准所述X射线源的所述位置,所述检测器操作以接收由所述X射线源所传输的所述X射线;

其中相对于所述系统的检测器校准所述X射线源的所述位置包括:

生成所述X射线源的所述视场的一个或多个边缘点;

相对于所述检测器的中心生成所述视场的一个或多个边缘距离;

经由将所述一个或多个边缘点与所述一个或多个边缘距离进行比较来生成一个或多个偏移值;以及

至少部分地基于所述一个或多个偏移值来调整所述视场。

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