[发明专利]二维层的转移有效
申请号: | 201910865027.X | 申请日: | 2019-09-12 |
公开(公告)号: | CN110896054B | 公开(公告)日: | 2022-07-26 |
发明(设计)人: | S·布雷姆斯;C·胡耶巴尔特;K·维古斯 | 申请(专利权)人: | IMEC非营利协会;鲁汶天主教大学 |
主分类号: | H01L21/78 | 分类号: | H01L21/78 |
代理公司: | 上海专利商标事务所有限公司 31100 | 代理人: | 蔡文清;陈哲锋 |
地址: | 比利*** | 国省代码: | 暂无信息 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 二维 转移 | ||
1.一种用于使膜与基材层离的方法,该方法包括:
- 提供第一材料的基材,其与第二材料的膜直接接触;
- 使用粘合剂将膜粘合至载体;
- 将超临界流体引入膜和基材之间,其中,超临界流体的临界温度低于粘合剂的玻璃化转变温度;
- 在引入超临界流体后,从膜上机械剥离基材。
2.如权利要求1所述的方法,其中,所述第一材料和所述第二材料是外延生长匹配的。
3.如前述权利要求中任一项所述的方法,其中,所提供的基材的第一材料是蓝宝石或氮化铝。
4.如权利要求1所述的方法,其中,所述第二材料是金属二硫属化物。
5.如权利要求1所述的方法,其中,所述第一材料是铂或铜,并且所述第二材料是石墨烯。
6.如权利要求1所述的方法,其中,所述第二材料是六方氮化硼。
7.如权利要求1所述的方法,其中,超临界流体包括非极性分子。
8.权利要求7所述的方法,其中,所述超临界流体包括CO2。
9.如权利要求1所述的方法,其中,所述超临界流体包括极性分子。
10.如权利要求1所述的方法,所述方法还包括:
- 在从膜上剥离基材之后,将膜转移至目标物;
- 去除载体。
11.如权利要求10所述的方法,其中,所述目标物使用CMOS工艺流程来制造。
12.如权利要求11所述的方法,其中,在生产线前端处的目标物加工步骤之后,将膜转移到目标物上。
13.如权利要求11所述的方法,其中,在生产线后端处的目标物加工步骤之后,将膜转移到目标物上。
14.如权利要求11至13中任一项所述的方法,其中,在使膜转移之前,在目标物上施加钝化层。
15.如权利要求1所述的方法,其中,将激光剥离层设置在粘合剂和载体之间。
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H01L 半导体器件;其他类目中不包括的电固体器件
H01L21-00 专门适用于制造或处理半导体或固体器件或其部件的方法或设备
H01L21-02 .半导体器件或其部件的制造或处理
H01L21-64 .非专门适用于包含在H01L 31/00至H01L 51/00各组的单个器件所使用的除半导体器件之外的固体器件或其部件的制造或处理
H01L21-66 .在制造或处理过程中的测试或测量
H01L21-67 .专门适用于在制造或处理过程中处理半导体或电固体器件的装置;专门适合于在半导体或电固体器件或部件的制造或处理过程中处理晶片的装置
H01L21-70 .由在一共用基片内或其上形成的多个固态组件或集成电路组成的器件或其部件的制造或处理;集成电路器件或其特殊部件的制造