[发明专利]外加电场辅助GaN纳米线阵列光电阴极及制备方法有效
申请号: | 201910866932.7 | 申请日: | 2019-09-12 |
公开(公告)号: | CN110610838B | 公开(公告)日: | 2021-08-03 |
发明(设计)人: | 刘磊;陆菲菲;田健;张杨星月 | 申请(专利权)人: | 南京理工大学 |
主分类号: | H01J1/34 | 分类号: | H01J1/34;H01J9/12;B82Y30/00;B82Y40/00 |
代理公司: | 南京理工大学专利中心 32203 | 代理人: | 唐代盛 |
地址: | 210094 *** | 国省代码: | 江苏;32 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 外加 电场 辅助 gan 纳米 阵列 光电 阴极 制备 方法 | ||
1.一种外加电场辅助GaN纳米线阵列光电阴极,其特征在于,包括银环氧树脂电极(1)、柔性聚甲基丙烯酸甲酯层(2),高度对齐的p型GaN纳米线阵列(3)和透明氧化铟锡电极(4);其中
柔性聚甲基丙烯酸甲酯层(2)设置于银环氧树脂电极(1)和透明氧化铟锡电极(4)之间,且柔性聚甲基丙烯酸甲酯层(2)内部真空,
p型GaN 纳米线阵列(3)设置于柔性聚甲基丙烯酸甲酯层(2)内,
p型GaN 纳米线阵列(3)外部设置Cs/O激活层(5),
透明氧化铟锡电极(4)和p型GaN纳米线阵列(3)顶部接触,形成肖特基结,
透明氧化铟锡电极(4)和银环氧树脂电极(1)之间的偏置电压引入外部场,控制偏置电压的大小和方向改变场强。
2.根据权利要求1所述的光电阴极,其特征在于,制造的外加电场辅助光电阴极的有效面积为1×1 mm2。
3.根据权利要求1所述的光电阴极,其特征在于,制备的p型GaN 纳米线垂直排列,长度为4-5μm,直径为100nm,间距为10-100nm。
4.根据权利要求1所述的光电阴极,其特征在于,沉积在p型GaN 纳米线阵列(3)顶部的透明氧化铟锡电极(4)膜厚为80nm。
5.根据权利要求1所述的光电阴极,其特征在于,所述p型GaN 纳米线阵列(3),掺杂元素为Mg,掺杂浓度范围为1016~1019cm-3。
6.一种制备上述任意权利要求所述的外加电场辅助GaN纳米线阵列光电阴极的方法,其特征在于,包括以下步骤:
步骤1,使用催化剂诱导的CVD方法,在大面积的SiO2/Si衬底上生长p型GaN纳米线,其中SiO2涂覆在Si上;
步骤2,将得到的p型GaN纳米线阵列(3)进行化学清洗,随后在超高真空环境中进行热清洗,然后进行Cs/O激活,形成负电子亲和态表面;
步骤3,在超高真空环境中,旋涂柔性聚甲基丙烯酸甲酯层(2)以完全包裹纳米线;
步骤4,在超高真空环境中,将垂直排列的p型GaN纳米线阵列(3)浸入稀释的氢氟酸溶液中,将SiO2/Si基板除去;
步骤5,在超高真空环境中,用氧等离子体处理柔性聚甲基丙烯酸甲酯层(2)以暴露纳米线的顶表面和底表面;
步骤6,在超高真空环境中,将银环氧树脂电极(1)粘合到p型GaN纳米线阵列(3);
步骤7,在超高真空环境中,将80nm厚的透明氧化铟锡电极(4)沉积在纳米线的顶部作为顶部透明电极。
7.根据权利要求6所述的方法,其特征在于,SiO2/Si衬底厚度在2~3μm,SiO2厚度为800nm。
8.根据权利要求6所述的方法,其特征在于,在步骤3中形成的柔性聚甲基丙烯酸甲酯层(2)包裹在整个p型GaN纳米线阵列(3)周围,内部呈现真空环境。
9.根据权利要求6所述的方法,其特征在于,在步骤2化学清洗结束的p型GaN纳米线阵列(3)送入超高真空环境中进行Cs/O激活后,所有外加电场辅助光电阴极的封装过程都在超高真空腔中进行。
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