[发明专利]一种存储设备测试和自动分BIN的方法、装置以及设备

权利要求书

1.一种存储设备测试和自动分BIN的方法，其特征在于，所述存储设备测试和自动分BIN方法具有对应的测试自动分BIN机台，所述测试自动分BIN机台包括测试区域、分类区域和成品区域，且所述测试自动分BIN机台具有对应的承载板，包括：

所述测试自动分BIN机台进行机台自检；

将装有待测试的存储设备的第一承载板传送至所述测试区域，并测试所有所述待测试的存储设备；

判断是否获取到所有所述待测试的存储设备的测试结果数据信息，其中所述测试结果信息包括各所述待测试的存储设备对应的实际容量信息，并根据所述实际容量信息，将各已测试的存储设备分为存储容量合格、存储容量失效，以及无法测试存储容量三种类别；

若是，则依次判断各所述已测试的存储设备是否处在所述第一承载板对应的预设位置；

若是，则将处在所述第一承载板对应预设位置的所述已测试的存储设备判定为第一存储设备；

根据所述测试结果数据信息，将各所述第一存储设备从所述第一承载板转移至对应的第二承载板，其中，所述第二承载板为位于所述分类区域的承载板；

判断位于所述第二承载板的存储容量合格的所述第一存储设备是否达到预设数量；

若是，则将装载有存储容量合格的所述第一存储设备的所述第二承载板从所述分类区域传送至成品区域。

2.根据权利要求1所述的存储设备测试和自动分BIN的方法，其特征在于，所述依次判断各所述已测试的存储设备是否处在所述第一承载板对应的预设位置步骤，包括：

以位于测试区域的指定所述第一承载板的中心为原点，建立二维坐标轴，其中，指定所述第一承载板为装载待转移的存储设备的承载板；

根据光学定位，获取各所述已测试的存储设备在所述第一承载板对应的实际位置，生成各所述已测试的存储设备对应的第一坐标信息；

根据各所述已测试的存储设备在所述第一承载板对应的预设位置，获取第二坐标信息，其中，所述第二坐标信息为各所述已测试存储设备预设于数据库的对应的坐标信息；

判断各所述已测试存储设备对应的所述第一坐标信息，以及对应的所述第二坐标信息是否一致；

若是，则判定该所述已测试的存储设备处在所述第一承载板对应的预设位置。

3.根据权利要求1所述的存储设备测试和自动分BIN的方法，其特征在于，存储容量合格的所述第一存储设备具有对应的容量等级划分表，存储容量合格的各所述第一存储设备具有对应的排布序号，所述根据测试结果数据信息，将各所述第一存储设备从所述第一承载板转移至对应的第二承载板的步骤，包括：

获取各排布序号对应的所述第一存储设备的所述实际容量信息；

根据所述容量等级划分表和所述实际容量信息，将各排布序号对应的所述第一存储设备划分容量等级；

根据所述容量等级，各所述排布序号对应的所述第一存储设备转移至与所述容量等级对应的所述第二承载板。

4.根据权利要求3所述的存储设备测试和自动分BIN的方法，其特征在于，将装载有存储容量合格的所述第一存储设备的所述第二承载板从所述分类区域传送至成品区域的步骤之后，包括：

记录当前各所述容量等级对应的所述第二承载板的数量；

根据各所述容量等级对应的所述第二承载板的数量，计算当前各所述容量等级对应的存储设备的数量。

5.根据权利要求1所述的存储设备测试和自动分BIN的方法，其特征在于，判断位于所述第二承载板的存储容量合格的所述第一存储设备是否达到预设数量的步骤之后，包括：

若否，则判断所述第一承载板是否存在所述第一存储设备；

若否，则将所述第二承载板从所述分类区域传输到所述成品区域。