[发明专利]用于真实多普勒探测的具有集成移频器的激光雷达系统

权利要求书

1.一种检测物体的方法，包括：

在光子芯片的激光器处生成透射光束以及相关联的本地振荡器光束；

通过所述光子芯片的移频器移位所述相关联的本地振荡器光束的频率，以获得频移的本地振荡器光束；

在所述光子芯片的组合器处，将反射光束与频移的本地振荡器光束组合，所述反射光束是所述透射光束从所述物体处的反射；并且

在第一组光电探测器处，从所述反射光束和频移的本地振荡器光束的组合中获得所述物体参数的第一测量值；

将所述反射光束与未移位的本地振荡器光束组合，并在第二组光电探测器处，从所述反射光束与未移位的本地振荡器光束的组合中获得所述物体参数的第二测量值；

根据所述物体参数的第一测量值和物体参数的第二测量值的比较来去除物体的多普勒模糊。

2.根据权利要求1所述的方法，还包括从啁啾信号生成所述透射光束和相关联的本地振荡器光束，并且通过将所述光子芯片的本地振荡器波导中的啁啾信号的相位移位一选定量来移位所述相关联的本地振荡器光束的频率。

3.根据权利要求1所述的方法，还包括经由第一孔径从所述光子芯片发射透射光束，并且经由第二孔径在所述光子芯片处接收反射光束。

4.一种激光雷达系统，包括：

光子芯片，包括：

激光器，配置成在所述光子芯片内生成透射光束和相关联的本地振荡器光束；

片上移频器，配置成移位所述相关联的本地振荡器波束的频率，以获得频移的本地振荡器波束；

组合器，配置成将反射光束和频移的本地振荡器光束组合，其中，所述反射光束是所述透射光束从物体处的反射；以及

第一组光电探测器，配置成生成与所述频移的本地振荡器光束和反射光束的组合相关的第一电信号；以及

处理器，配置成从所述第一电信号获得参数的第一测量值；

其中，所述光子芯片还包括第二组光电探测器，所述第二组光电探测器配置成生成与所述反射光束和未移位的本地振荡器光束的组合相关的第二电信号；

其中，所述处理器还配置成根据所述第一电信号和第二电信号的比较来去除所述物体的多普勒模糊。

5.根据权利要求4所述的激光雷达系统，其中，所述激光器是可控的，以为所述透射光束和相关联的本地振荡器光束生成啁啾信号，其中，所述片上移频器配置成通过将所本地振荡器波导中的啁啾信号的相位移位一选定量来移位所述相关联的本地振荡器光束的频率。

6.根据权利要求5所述的激光雷达系统，还包括所述光子芯片的第一孔径和所述光子芯片的第二孔径，所述透射光束通过所述第一孔径离开所述光子芯片，所述反射光束通过所述第二孔径进入所述光子芯片。