[发明专利]一种柔性梯度应变薄膜及其制备方法和应用有效

专利信息
申请号: 201910870429.9 申请日: 2019-09-16
公开(公告)号: CN110620140B 公开(公告)日: 2021-07-06
发明(设计)人: 潘泰松;李宇;王海钱;颜卓程;姚光;高敏;林媛 申请(专利权)人: 电子科技大学
主分类号: H01L29/06 分类号: H01L29/06;H01L21/02
代理公司: 电子科技大学专利中心 51203 代理人: 吴姗霖
地址: 611731 四川省成*** 国省代码: 四川;51
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摘要:
搜索关键词: 一种 柔性 梯度 应变 薄膜 及其 制备 方法 应用
【权利要求书】:

1.一种柔性梯度应变薄膜,包括柔性衬底和在衬底表面具有周期性纹波结构的硅薄膜,其特征在于,所述硅薄膜图形为两个关于上底边对称的等腰梯形,且所述两个等腰梯形具有同一上底边,其中,等腰梯形中较短的底边定义为上底边,较长的底边定义为下底边。

2.如权利要求1所述柔性梯度应变薄膜的制备方法,其特征在于,包括以下步骤:

步骤1.在SOI衬底上通过光刻和等离子体干法刻蚀相结合,在SOI顶层硅表面制备两个关于上底边对称的等腰梯形图案,且所述两个等腰梯形具有同一上底边;

步骤2.将具有图形结构的顶层硅薄膜转移至PDMS印章上;

步骤3.制备PDMS衬底,并对衬底进行紫外光照预处理,然后对其进行预拉伸处理;

步骤4.将PDMS印章上的顶层硅薄膜转移至步骤3预拉伸处理后的PDMS衬底上,释放预拉伸,得到所需具有柔性梯度应变薄膜。

3.如权利要求2所述柔性梯度应变薄膜的制备方法,其特征在于,等腰梯形图案的上底边与下底边的长度比值为0.3~0.6,上底边与高的长度比值为0.1~0.2。

4.如权利要求2所述柔性梯度应变薄膜的制备方法,其特征在于,步骤1所述顶层硅的厚度为200~500nm。

5.如权利要求2所述柔性梯度应变薄膜的制备方法,其特征在于,步骤3所述预拉伸处理为:小于5%的预拉伸量通过热膨胀法获得,大于5%的预拉伸量通过拉伸夹具获得。

6.如权利要求5所述柔性梯度应变薄膜的制备方法,其特征在于,所述热膨胀法具体为将薄膜加热至110~180℃,加热至110℃得到2.79%的预拉伸,130℃得到3.56%的预拉伸。

7.一种如权利要求1所述柔性梯度应变薄膜的调控方法,具体为:改变预拉伸量,对波纹结构的波长和振幅进行调控,预拉伸越大,波长越小,振幅越大,应变也越大。

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