[发明专利]高速、覆盖区小的X射线断层摄影检查系统、设备和方法在审
申请号: | 201910871444.5 | 申请日: | 2012-11-21 |
公开(公告)号: | CN110632673A | 公开(公告)日: | 2019-12-31 |
发明(设计)人: | 莫里茨·贝克曼;弗兰克·施普伦格;程远;卢健平;德尔克·斯普隆克;乔治·扎鲁尔;周子刚 | 申请(专利权)人: | 新锐系统有限责任公司 |
主分类号: | G01V5/00 | 分类号: | G01V5/00;G01N23/046 |
代理公司: | 11225 北京金信知识产权代理有限公司 | 代理人: | 夏云龙;夏东栋 |
地址: | 美国北卡*** | 国省代码: | 美国;US |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 检查区 行进 断层摄影图像 方向移动 检查系统 传送机 检测 射束 准直 三维 垂直 记录 检查 | ||
1.一种小覆盖区且轻型的检查系统,其包括:
传送机,其被配置为沿行进方向移动待被检查的物体通过检查区;
两个或多个线性多射束X射线源阵列,其以非圆形几何形状布置在沿所述行进方向以预定距离隔开的平行成像平面内,该两个或多个X射线源阵列中的每一个包括多个单独的X射线焦斑,每个单独的X射线焦斑与场致发射阴极相关,该两个或多个X射线源阵列能操作以提供多个准直的X射线束沿大致垂直于所述行进方向的方向通过所述检查区;
一个或多个X射线检测器阵列,其被配置为检测从所述X射线源阵列通过所述检查区的X射线束;
电子控制器,其能操作以:根据预编程的模式而电子地启动和关闭来自所述X射线源阵列的各X射线束,以监控所述两个或多个线性多射束X射线源阵列的状态,以及调节所述各X射线束;
信号处理单元,其能操作以记录通过所述X射线检测器阵列所检测到的对应的X射线信号并形成所述物体的多个X射线投影图像;以及
数据处理单元,其能操作以用于将所述多个X射线投影图像处理成所述物体的三维断层摄影图像,
其中,所述两个或多个线性多射束X射线源阵列中的至少两个X射线源阵列布置在所述检查区的上方,并且相对于彼此间隔开;并且
其中,所述两个或多个线性多射束X射线源阵列中的至少两个另外的X射线源阵列布置在所述检查区的一侧,其中,两个另外的X射线源阵列中的至少一个比所述两个另外的X射线源阵列中的另一个X射线源阵列更靠近传送机安置,并且其中所述至少两个另外的X射线源阵列中的每一个相对于彼此间隔开。
2.根据权利要求1所述的检查系统,其中,所述检查区包括所述传送机通过的通道。
3.根据权利要求1所述的检查系统,其中,所述两个或多个多射束X射线源阵列分别被配置为生成多个准直的X射线扇形射束。
4.根据权利要求1所述的检查系统,其中,所述两个或多个多射束X射线源阵列分别被配置为生成多个准直的X射线锥形射束。
5.根据权利要求1所述的检查系统,其中,所述两个或多个多射束X射线源阵列中的每一个都包括多个场致发射电子源。
6.根据权利要求5所述的检查系统,其中,所述多个场致发射电子源中的每一个都包括碳纳米管场致发射电子源。
7.根据权利要求1所述的检查系统,其中,所述两个或多个多射束X射线源阵列中的每一个都包括介于大约5和100之间的各X射线生成源元件。
8.根据权利要求1所述的检查系统,其中,所述两个或多个X射线源阵列包括:第一X射线源阵列,其能操作以生成相对较低能量的X射线束;和第二X射线源阵列,其能操作以生成相对较高能量的X射线束。
9.根据权利要求1所述的检查系统,其中,所述两个或多个多射束X射线源阵列中的其中一个和所述一个或多个X射线检测器阵列中的对应一个定位在至少大致相同的平面上。
10.根据权利要求1所述的检查系统,其中,所述两个或多个多射束X射线源阵列包括至少一个第一多射束X射线源阵列和至少一个第二多射束X射线源阵列,以及
其中,所述一个或多个X射线检测器阵列包括对应于所述第一多射束X射线源阵列的至少一个第一X射线检测器阵列和对应于所述第二多射束X射线源阵列的至少一个第二X射线检测器阵列。
11.根据权利要求1所述的检查系统,其中,所述X射线检测器阵列利用模块化设计使得其能够布置成U形结构。
12.根据权利要求1所述的检查系统,其中,所述一个或多个X射线检测器阵列分别包括至少两组检测元件,其中,一组检测元件被优化为检测相对较低能量的X射线而另一组检测元件被优化为检测相对较高能量的X射线。
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