[发明专利]缺陷分类的方法、装置、计算机设备和存储介质

说明书

本申请涉及一种缺陷分类的方法，该方法包括：获取每个相机拍摄得到的同一缺陷对应的缺陷图像，不同相机拍摄所述同一缺陷的条件不同；对每个所述缺陷图像中的缺陷进行特征提取，得到每个缺陷图像对应的缺陷特征值；根据每个缺陷图像对应的所述缺陷特征值采用与相应相机对应的缺陷分类器对所述缺陷进行分类，得到每个缺陷分类器对应的分类结果；根据每个所述缺陷分类器对应的分类结果确定所述缺陷的目标分类。该方法大大提高了缺陷分类的准确度。此外，还提出了一种缺陷分类的装置、计算机设备及存储介质。

技术领域

本发明涉及计算机技术领域，尤其涉及一种缺陷分类的方法、装置、计算机设备和存储介质。

背景技术

缺陷检测在各行各业都有涉及，比如，玻璃缺陷的检测、钢板缺陷的检测、薄膜缺陷的检测等。缺陷检测的目的是为了及时发现残次品，在加工过程中，有些类型的缺陷是可以修复的，所以缺陷检测之后的分类显得尤为重要。

在传统的缺陷分类中是通过单一的分类规则进行分类，由于缺陷在不同环境下呈现的形态可能不一样，所以采用单一的分类规则往往不够准确。

发明内容

基于此，有必要针对上述问题，提供一种提高缺陷分类准确性的缺陷分类的方法、装置、系统、计算机设备及存储介质。

第一方面，本发明实施例提供一种缺陷分类的方法，所述方法包括：

获取每个相机拍摄得到的同一缺陷对应的缺陷图像，不同相机拍摄所述同一缺陷的条件不同；

对每个所述缺陷图像中的缺陷进行特征提取，得到每个缺陷图像对应的缺陷特征值；

根据每个缺陷图像对应的所述缺陷特征值采用与相应相机对应的缺陷分类器对所述缺陷进行分类，得到每个缺陷分类器对应的分类结果；

根据每个所述缺陷分类器对应的分类结果确定所述缺陷的目标分类。

第二方面，本发明实施例提供一种缺陷分类的装置，所述装置包括：

获取模块，用于获取每个相机拍摄得到的同一缺陷对应的缺陷图像，不同相机拍摄所述同一缺陷的条件不同；

提取模块，用于对每个所述缺陷图像中的缺陷进行特征提取，得到每个缺陷图像对应的缺陷特征值；

分类模块，用于根据每个缺陷图像对应的所述缺陷特征值采用与相应相机对应的缺陷分类器对所述缺陷进行分类，得到每个缺陷分类器对应的分类结果；

确定模块，用于根据每个所述缺陷分类器对应的分类结果确定所述缺陷的目标分类。

第三方面，本发明实施例提供一种计算机设备，包括存储器和处理器，所述存储器存储有计算机程序，所述计算机程序被所述处理器执行时，使得所述处理器执行如下步骤：

获取每个相机拍摄得到的同一缺陷对应的缺陷图像，不同相机拍摄所述同一缺陷的条件不同；

对每个所述缺陷图像中的缺陷进行特征提取，得到每个缺陷图像对应的缺陷特征值；

根据每个缺陷图像对应的所述缺陷特征值采用与相应相机对应的缺陷分类器对所述缺陷进行分类，得到每个缺陷分类器对应的分类结果；

根据每个所述缺陷分类器对应的分类结果确定所述缺陷的目标分类。

第四方面，本发明实施例提供一种计算机可读存储介质，存储有计算机程序，所述计算机程序被处理器执行时，使得所述处理器执行如下步骤：

获取每个相机拍摄得到的同一缺陷对应的缺陷图像，不同相机拍摄所述同一缺陷的条件不同；

对每个所述缺陷图像中的缺陷进行特征提取，得到每个缺陷图像对应的缺陷特征值；