[发明专利]一种精密研磨抛光夹具

说明书

本发明涉及一种精密研磨抛光夹具，包括相互垂直设置的夹具主体、数显千分表，夹具主体上设有第一通孔，数显千分表包括依次连接的表头、套筒、测量杆，数显千分表的套筒穿过第一通孔并固定安装在夹具主体上，夹具主体上靠近测量杆的一面安装有多个夹紧组件，多个夹紧组件相互配合，用于对工件进行夹紧；测量杆的端部设置有测试头，测试头上设置有凹槽，凹槽内嵌套设置滚珠。本发明通过在数显千分表设置公差进行判断，研磨过程中当判断结果超出公差时，数显千分表发出警报，通知员工该产品已达到预设研磨量。通过本发明的夹具，研磨出来的精度可达到0.01以下，满足更高的产品需求。

技术领域

本发明涉及机械加工领域，具体涉及一种精密研磨抛光夹具。

背景技术

在半导体、光通讯、机械加工等行业中，都离不开研磨抛光工序。最常用的研磨抛光方法是使用研磨机，将产品固定在夹具中，放在研磨盘上，加入适量的研磨液，利用研磨盘的旋转与产品产生摩擦，通过研磨时间的控制来达到减薄、磨平、倒角的目的。然后因为研磨盘磨损导致的磨削力下降，机器机械磨损导致精度下降等原因，相同时间内研磨出来的尺寸差异较大，且精度只能达到0.2mm左右。

发明内容

本发明针对现有技术中存在的技术问题，提供一种精密研磨抛光夹具，其可以实现精度更高的研磨抛光等操作。

本发明解决上述技术问题的技术方案如下：一种精密研磨抛光夹具，包括相互垂直设置的夹具主体、数显千分表，所述夹具主体上设有第一通孔，所述数显千分表包括依次连接的表头、套筒、测量杆，所述数显千分表的套筒穿过所述第一通孔并固定安装在所述夹具主体上，所述夹具主体上靠近所述测量杆的一面安装有多个夹紧组件，多个所述夹紧组件相互配合，用于对工件进行夹紧；所述测量杆的端部设置有测试头，所述测试头上设置有凹槽，所述凹槽内嵌套设置滚珠。

本发明的精密研磨抛光夹具，可以实现精度更高的研磨抛光等操作。提前为数显千分表设置好报警的公差值，当多个夹紧组件之间相互配合将工件固定夹紧在夹具上后，将夹具置于一平面上，此时将数显千分表设置零位，然后操作员控制将夹具置于研磨盘上，工件与测试头同步与研磨盘接触，随着工件被研磨而减小厚度，测试头上的滚珠推动测量杆压缩进千分表内，压缩的量即对应工件被研磨的厚度，数显千分表将测量杆的压缩量换算成尺寸并与预设的公差值进行比较，达到报警条件时即进行报警。本发明通过在数显千分表设置上、下公差进行GO/±NG判断，在研磨过程中当判断结果超出公差时，数显千分表发出警报，发出通知员工该产品已达到预设研磨量，需停止机器，取出产品检查。通过本发明的夹具，研磨出来的精度可达到0.01以下，满足更高的产品需求。

在上述技术方案的基础上，本发明还可以做如下改进。

优选地，所述测试头的一端与所述测量杆固定连接，所述测试头的另一端设置有凹槽，所述凹槽设置为球冠状，所述滚珠设置在所述凹槽内；所述凹槽外还设置有帽盖，所述帽盖与所述测试头固定连接，所述帽盖的顶部设置有开孔，所述开孔的孔径小于所述滚珠的直径，所述滚珠的表面与所述开孔配合。滚珠在球冠状的凹槽内，帽盖的设置可防止滚珠脱落，在研磨过程中，滚珠在凹槽内适应研磨盘以及夹具的运动而进行滚动，在为测量杆提供刚性支撑的同时，减小测试头与研磨盘的摩擦力，使测试更准确。

优选地，所述夹具主体上靠近所述测试头的一面设置有凸台，所述凸台的台阶面上设有定位柱，所述定位柱平行所述夹具主体设置，所述夹紧组件穿过所述定位柱、与所述凸台相配合。夹紧组件的夹紧方向沿定位柱的轴向，即夹紧组件的夹紧方向平行于夹具主体，利于更高效率地为工件定位、将工件进行夹紧。

优选地，所述凸台为正棱柱，所述凸台的侧面数量与所述夹紧组件的数量相一致。

优选地，所述夹紧组件与其最靠近的所述凸台的侧面平行设置。这样设置，利于各个方向定位柱的安装，同时因为夹紧组件与其最靠近的所述凸台的侧面平行。当夹紧组件位于最小的夹紧范围时，夹紧组件与凸台的侧面贴合，增大了夹紧的稳定性。