[发明专利]一种用于光照度测定的微型定位调距装置及测定方法

说明书

本发明公开了一种用于光照度测定的微型定位调距装置，包括底座和正六面体盒，所述正六面体盒设置于底座的顶部，所述正六面体盒的内部设有X轴、Y轴、Z轴和O端，所述O端位于X轴、Y轴和Z轴的相交处，所述X轴、Y轴和Z轴的表面均固定连接有刻度尺，涉及光照射测定技术领域。该用于光照度测定的微型定位调距装置，在实验室进行实验过程中，可对单色可见光在正六面体避光盒的空间位置进行精度达0.01mm的精确定位，能够很好的满足实验中对于空间位置的定位需求，与光电元件和光感探测器配合使用，提高测量正六面体避光盒内可见单色光的空间点的照度时，各位置的测量精度，且成本低，易操作。

技术领域

本发明涉及光照射测定技术领域，具体为一种用于光照度测定的微型定位调距装置及测定方法。

背景技术

当前针对可见光对物质分子的影响研究越来越深入，在研究过程中，需要对固定同一单色发散光源在不同点处光照度、色温、色坐标、明度、饱和度、纯度等参数进行测量。其中对于同一单色发散光源在不同点处光照度的测量，由于随着空间位置的变化，测量过程，不同点处光照度也随之变化，所以反映不同点处光照度的真实变化情况十分重要。

对于光照度定点定位，需要一个能够对前后方向(Z)、左右方向(X)、上下方向(Y)同时进行调节的定位装置，即三维定位装置。而现有的定位装置主要分为一维装置如直尺、游标卡尺、螺旋测微仪等；二维装置，如用于对中子检测的二维定位装置，可以精准定位定点，实验过程中，对空间位置的点进行定位的定位精度要求在0.01mm左右，直接使用一维装置对该点进行长度测量并定位时，若使用直尺，可较方便的测量壁面装置的左右和上下方向长度，但测量精度太低，不能达到实验要求的精度，且人为因素影响较大；若使用游标卡尺和螺旋测微仪，测量精度较高，精度可达0.01mm，能够满足实验要求，可对光源横切面或光照射面的表面的点进行有效测量，却无法空间上的其他点进行测量，测量难度太大。

发明内容

(一)解决的技术问题

针对现有技术的不足，本发明提供了一种用于光照度测定的微型定位调距装置及测定方法，解决了现有的实验室对单色可见光不同点处定位困难的问题。

(二)技术方案

为实现以上目的，本发明通过以下技术方案予以实现：一种用于光照度测定的微型定位调距装置，包括底座和正六面体盒，所述正六面体盒设置于底座上，所述正六面体盒的内部设有X轴、Y轴、Z轴和O端，所述O端位于X轴、Y轴和Z轴的相交处，所述X轴、Y轴和Z轴的表面分别固定连接有刻度尺，所述刻度尺的长度为20cm，所述刻度尺的表面滑动连接有调节器，并且调节器的表面安装有红外发射器，所述O端安装有微光感探测器，所述微光感探测器接有X方向线、Y方向线和Z方向线。

进一步地，所述正六面体盒的表面固定连接有控制面板，所述控制面板与控制电路相连接，所述控制面板表面的上方固定连接有显示屏，所述控制面板表面的下方从左至有依次设置有电源开关和检测按钮，所述检测按钮用于控制所述微光感探测器的启停；

所述调节器包括调节器定位按钮，3个调节器定位按钮分别设置在所述正六面体盒与所述X轴、Y轴和Z轴相交的顶角处，用于调节红外发射器到O端的距离。

进一步地，所述正六面体盒的底部安装有散热器。

进一步地，所述微光感探测器为无线光照度传感器。

进一步地，所述控制电路包括电源电路和数据处理电路，所述微光感探测器、数据处理电路、红外发射器和散热器均与所述电源电路相连接，所述数据处理电路与所述显示屏相连接，所述微光感探测器与所述数据处理电路连接。

本发明还提供了一种光照度测定方法，所述方法采用微型定位调距装置，测定方法具体包括以下步骤：

S1、使用之前操作人员调节3个调节器定位按钮，通过调节器使得X轴、Y轴和Z轴上的红外发射器均滑动至O端，且微光感探测器会处于关闭状态；