[发明专利]一种双波段光加密阻变存储器及其制备方法、写入方法和读取方法在审
申请号: | 201910876536.2 | 申请日: | 2019-09-17 |
公开(公告)号: | CN110635029A | 公开(公告)日: | 2019-12-31 |
发明(设计)人: | 李岚;刘丁;徐建萍;刘巍嵩;杨鹏城;许江华 | 申请(专利权)人: | 天津理工大学 |
主分类号: | H01L45/00 | 分类号: | H01L45/00;G11C13/00 |
代理公司: | 12229 天津合正知识产权代理有限公司 | 代理人: | 马云云 |
地址: | 300302 *** | 国省代码: | 天津;12 |
权利要求书: | 查看更多 | 说明书: | 查看更多 |
摘要: | |||
搜索关键词: | 阻变存储器 薄膜层 籽晶层 玻璃基 双波段 下电极 加密 读取 异质结结构 光电双控 退火处理 信息加密 单电源 误操作 最底层 电极 波长 两层 旋涂 阻态 光照 写入 | ||
1.一种双波段光加密阻变存储器,其特征在于:所述阻变存储器包括:
位于最底层的玻璃基底(1),
位于所述玻璃基底(1)上的FTO下电极(2),
位于所述FTO下电极(2)的表面上的AZO籽晶层(3),
位于所述AZO籽晶层(3)上的ZnO纳米棒阵列(4),
位于所述ZnO纳米棒阵列(4)上的PdS薄膜层(5),
位于所述PdS薄膜层(5)上的Al上电极(6);
其中,所述PdS薄膜层(5)和ZnO纳米棒阵列(4)形成异质结结构,
所述AZO籽晶层(3)旋涂两层,并做退火处理。
2.根据权利要求1所述的双波段光加密阻变存储器,其特征在于:所述FTO下电极(2)的厚度为400nm,所述ZnO纳米棒阵列(4)的厚度小于3μm,所述Al上电极(6)的厚度为100nm-150nm。
3.根据权利要求1所述的双波段光加密阻变存储器,其特征在于:所述阻变存储器的Al上电极(6)接电源正极,FTO下电极(2)接电源负极,在暗态和光照下用2V-5V触发,能触发实现多级存储。
4.一种如权利要求1-3任一项所述的双波段光加密阻变存储器的制备方法,其特征在于:该方法包括如下步骤:
1)将二水乙酸锌、硝酸铝和乙二醇甲醚溶液进行混合,室温条件下磁力搅拌;混合均匀后再放置在60℃水浴磁力搅拌,并且滴加0.75mL的乙醇胺作为稳定剂,恒温均匀搅拌,得到澄清透明溶液;待冷却至室温后转移至冰箱,静置陈化12h后得到澄清透明的AZO溶胶-凝胶液;
2)在透明的玻璃基底(1)上形成方块电阻FTO下电极(2),并用洗洁精擦拭FTO下电极(2),直至擦拭干净,以去除吸附在其表面的灰尘;然后分别用洗洁精、丙酮、异丙醇、无水乙醇对FTO下电极(2)进行超声清洗,以去除吸附在其表面的有机物和杂质颗粒,然后放在真空干燥箱内烘干,再用氧等离子体处理FTO下电极(2)的表面,以提高其功函数;
3)在处理好的FTO下电极(2)上用匀胶机旋涂两层AZO籽晶层(3):第一次旋涂后放置在马弗炉中400℃退火15min,然后晾至室温;第二次旋涂后放置在马弗炉中400℃退火30min,取出晾至室温;
4)称取3.9256g的HMT和8.3280g的Zn(NO3)2·6H2O分别溶解于去离子水,搅拌至澄清,再分别将两种溶液混合,搅拌,得到溶液浓度为0.2M;将所述步骤3)得到的退火后的基片缠在载玻片上,然后将此载玻片放入反应釜内胆中,并在反应釜内胆中加入70ml生长液,后关闭反应釜;再将此反应釜放入恒温干燥箱中100℃反应3h;
5)在Ar气保护下,将PbO、油酸和十八烯依次加入三颈瓶中,在150℃下混合加热搅拌,待PbO充分溶解后降至80℃保温,标记为溶液A;以同样的方法,将硫代乙酰胺和十八烯依次加入另一个三颈瓶中,使硫代乙酰胺逐渐溶解并标记为溶液B;然后将溶液B迅速注入到溶液A中,同样在Ar气保护下在80℃加热反应10min;之后将反应产物放入冰水中,降至室温,依次用丙酮和乙醇多次离心清洗,干燥后得到固体PdS量子点;
6)将所述步骤5)得到的固体PdS量子点溶入氯仿中,反复离心取上清液制备浓度约为30mg/ml的饱和量子点溶液;然后采用匀胶机将饱和量子点溶液旋涂在所述步骤4)生成的ZnO纳米棒阵列(4)表面上,真空干燥1h去除残留溶剂;
7)将所述步骤6)制得的中间体移至真空镀膜系统,蒸镀150nm厚的金属Al形成Al上电极(6)。
5.一种如权利要求1-3任一项所述的双波段光加密阻变存储器的写入方法,其特征在于:该方法包括如下步骤:
A、获取所述阻变存储器的写入指令;
B、根据写入指令向所述阻变存储器施加正向写入电压信号;
C、所述阻变存储器的阻变介质层获取第一电阻值;
D、根据第一电阻值对所述阻变存储器进行写入操作。
该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息,商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于天津理工大学,未经天津理工大学许可,擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作,请联系【客服】
本文链接:http://www.vipzhuanli.com/pat/books/201910876536.2/1.html,转载请声明来源钻瓜专利网。