[发明专利]用于检测机器运动的位置检测系统和方法在审

专利信息
申请号: 201910877403.7 申请日: 2019-09-17
公开(公告)号: CN110906849A 公开(公告)日: 2020-03-24
发明(设计)人: G.邦德;S.施托尔贝格尔 申请(专利权)人: 罗伯特·博世有限公司
主分类号: G01B7/00 分类号: G01B7/00;G01B7/30
代理公司: 中国专利代理(香港)有限公司 72001 代理人: 方莉;李雪莹
地址: 德国斯*** 国省代码: 暂无信息
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摘要:
搜索关键词: 用于 检测 机器 运动 位置 系统 方法
【权利要求书】:

1.用于检测机器(10)的运动的位置检测系统(20;20A),所述位置检测系统具有:

第一位置传感器(21),用于检测由所述机器(10)的运动而产生的第一磁场(Hl)的变化;

第二位置传感器(22),用于检测不同于所述第一磁场(Hl)的且由所述机器(10)的运动而产生的第二磁场(H2)的变化,其中,与所述第一位置传感器(21)的检测结果相比,所述第二位置传感器(22)的检测结果具有所述机器(10)的元件(11;13)的、待确定的位置的较低分辨率;以及

评估装置(205),用于针对在功能上确定所述机器(10)的元件(11;13)的位置和针对确定该元件(11;13)根据预先给定的安全标准的位置来评估所述第一位置传感器(21)的至少一个检测结果和/或所述第二位置传感器(22)的至少一个检测结果,

其中,所述两个位置传感器(21、22)中的每一个位置传感器都通过单独的通信连接(217;227)与所述评估装置(205)连接,以便将其检测结果输出到所述评估装置(205)上。

2.根据权利要求1所述的位置检测系统(20;20A),此外具有:

至少两个第一磁体(211、212),在所述至少两个第一磁体上,所述第一位置传感器(21)检测所述第一磁场(Hl);和

第二磁体(221、222),在所述第二磁体上,所述第二位置传感器检测所述第二磁场(H2),

其中,所述至少两个第一磁体(211、212)和所述第二磁体(221、222)以预先确定的固定布置方案彼此布置。

3.根据权利要求2所述的位置检测系统(20;20A),其中,所述至少两个第一磁体(211、212)具有成行布置的磁极对(211、212),其中,不同极性的磁极(211、212)分别并排布置,其中,所述第二磁体(221、222)布置在所述至少两个第一磁体(211、212)的中心并且与成行布置的多个磁极对(211、212)间隔开地布置。

4.根据权利要求1至3中任一项所述的位置检测系统(20;20A),其中,所述评估装置(205)具有控制单元(210),所述控制单元用于对所述第一位置传感器(21)的至少一个检测结果和所述第二位置传感器(22)的至少一个检测结果进行评估。

5.根据权利要求1至3中任一项所述的位置检测系统(20;20A),其中,所述评估装置(205)具有:

用于对所述第一位置传感器(21)的至少一个检测结果(215)进行评估的第一控制单元(210);和

用于对所述第二位置传感器(22)的至少一个检测结果(225)进行评估的第二控制单元(220),

其中,所述第一和第二控制单元(210、220)彼此连接,以便将所述检测结果(215、225)或者评估结果作为数据(230)在所述控制单元(210、220)之间传递。

6.根据上述权利要求中任一项所述的位置检测系统(20;20A),其中,所述评估装置(205)被构造成,为了确定所述第一位置传感器(21)的磁体分度在一电回转内的位置,使用所述第一位置传感器(21)的检测结果,并且

其中,所述评估装置(205)被构造成,为了确定所述机器(10)的元件(11;13)关于一机械回转的位置,使用所述第二位置传感器(22)的检测结果。

7.根据上述权利要求中任一项所述的位置检测系统(20;20A),其中,所述评估装置(205)被构造成,在对所述位置传感器(21、22)的检测结果的评估中,将所述第一位置传感器(21)的至少一个检测结果和所述第二位置传感器(22)的至少一个检测结果用于故障识别。

8.根据上述权利要求中任一项所述的位置检测系统(20;20A),其中,在多个第一磁体(211、212)上设置有多于一个的第一位置传感器(21),以便检测所述第一磁场(Hl)的变化。

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