[发明专利]一种高效校靶镜轴线一致性检定装置及方法

说明书

本发明公开了一种高效校靶镜轴线一致性检定装置及方法。该装置包括一个可二维调整的调整台，以及内圆与校靶镜外圆公差配合的圆筒。以及放置于待检定校靶镜前方的平行光管。校靶镜内置CCD连接一个十字分划板产生器。其叠加图像通过液晶显示器显示出来。本发明解决了现有校靶镜的轴线检定过程中，装调困难，装调效率低等问题。本发明直接通过鼠标调整电子十字分划板的位置即可检定校靶镜机械轴与光学轴(视轴)的一致性，装调简单，高效。

技术领域

本发明涉及校靶镜轴线检定的技术领域，尤其涉及一种高效校靶镜轴线一致性检定装置及方法。

背景技术

校靶镜是一种用来校正炮筒轴线误差的光学仪器，其外圆的机械轴线即代表炮膛轴线，由于机械轴线的不可视，通常由光学轴线(视轴)将其标识出来，那么检定校靶镜机械轴和光学轴的一致性就显得尤为重要。当前对校靶镜的轴线检定主要采用机械调整的方法，在校靶镜前方放置一平行光管，转动校靶镜，观察光学十字分划板通过平行光管传输到平行光管焦面处的十字分划板的像与焦面处十字分划板的不重合度来调整光学十字分划板和平行光管，使得最终转动校靶镜时，校靶镜光学十字分划板像与十字分划板重合且稳定不动，认为校靶镜机械轴与光轴校准一致。其他方法也有在校靶镜望远镜后端像面接入探测器后直接叠加电子十字分划板，此处电子十字分划板中心与探测器靶面中心一致，转动校靶镜，电子分划板会随着转动，调整探测器的上下左右方位以及平行光管方位，找到旋转中心，将探测器中心移至旋转中心，光轴与机械轴一致性检定完毕。这些方法存在以下问题：1)检定装置繁琐，需要人眼不断观察。2)机械调整位置过多，需要调整光学分划板或者探测器，由于校靶镜内部空间有限，常常需要修垫内部件，调整困难，装调效率低。例如，专利CN 206247944U，CN 207263028 U为先前所写的两个校靶装置的专利，其中专利CN206247944 U校靶系统在检定系统的轴线的一致性时，需要调整系统的内部分划板，调整相当困难，且耗时长，而专利CN 207263028 U，在检定过程中需要调整探测器位置，通过一顶一拉将探测器位置不断确认好，再固定。

发明内容

本发明的目的是提供一种高效校靶镜轴线一致性检定方法，校靶镜是一种用来校正炮筒轴线误差的光学仪器，其外圆的机械轴线即代表炮膛轴线，由于机械轴线的不可视，通常由光学轴线将其标识出来，那么检定校靶镜机械轴和光学轴的一致性就显得尤为重要。本发明提出一种校靶镜轴线一致性检定方法，在待检定校靶镜前方放置一个平行光管，转动待检定校靶镜，并调整二维方位调整平台，使得平行光管星点像在CCD靶面不再打转，此时认为定义机械轴线的光学轴线被找到，认为光学轴与机械轴一致，并用鼠标将电子十字分划板的中心移至该星点像位置，并锁死。机械轴与光学轴的检定完成。检定系统中，平行光管的焦距选定为1.2m，平行光管焦面处小孔光阑半径为0.05～0.1mm，校靶镜望远物镜的焦距为60mm，CCD到液晶显示器的电放大倍率为25倍。由于CCD靶面的星点像大小比衍射极限爱里斑小，所以星点像弥散斑大小以爱里斑大小计算，r＝1.22λF/D，其中取λ＝0.63μm，校靶镜物镜口径D＝14mm，焦距F＝60mm，通过计算可以知道系统星点像大小为3.3μm，在液晶显示屏上半径大小为0.082mm，系统轴线在1个密位情况下的打转半径为1.5mm，在显示屏上星点像不打转时，系统检定的轴线精度是远远小于1个密位。并且其调整过程相当简单，无需调整校靶镜内部结构件，只需用鼠标调整电子十字分划板位置即可。

为了实现上述目的，本发明采用了以下的技术方案：

一种高效校靶镜轴线一致性检定装置，包括二维方位调整台4，以及安装在调整台上的圆筒3，待检校靶镜2安装于圆筒内部，平行光管1发出的平行光充满待检校靶镜物镜孔径11，校靶镜内部CCD 12将平行光管星点像传输到电子分划板产生器5中，通过电脑端控制系统6对其进行处理，并在LED显示器7上显示；

所述调整台为二维方位调整台4，包括俯仰偏摆的调整；

所述电子分划板产生器中主要在CCD成像信号的基础上叠加生成电子分划板，并且该分划板可通过电脑端控制系统直接移动；