[发明专利]检测和制造显示面板的方法

说明书

本发明涉及检测和制造显示面板的方法。其中，检测显示面板的方法，包括：制造所述显示面板，在薄膜晶体管TFT背板上形成多个像素电路，像素电路包括TFT和有机发光器件OLED、在TFT背板的至少一部分上形成连接至信号线的焊接垫、沿着TFT背板的所述一部分的所选边形成探针焊盘，以及形成多个多路复用器，所述多个多路复用器将所述探针焊盘连接至所述焊接垫，所述探针焊盘的数量小于所述焊接垫的数量；将所述TFT背板的所述探针焊盘与测量电子器件接合；通过所述探针焊盘和所述多个多路复用器提供来自所述测量电子器件的测试信号，以在沉积OLED之后且在密封所述显示面板之前检测所述显示面板；以及从所述显示面板的所述检测中确定所述显示面板是否是合格的。

本申请是申请日为2014年4月21日、发明名称为“用于OLED显示面板的检测系统”的申请号为201480022682.4的专利申请的分案申请。

技术领域

本发明大体涉及OLED显示器，并且更具体地，涉及用于检测诸如有源矩阵有机发光二极管显示器等显示器中的缺陷和不均匀性的检测系统。

背景技术

显示面板可以使用分别由单独电路(即，像素电路)控制的发光器件的阵列构成，所述单独电路具有用于选择性地控制该电路以用显示信息进行编程并根据显示信息使发光器件发光的晶体管。在基板上制造的薄膜晶体管(“TFT”)可以被装入这种显示面板中。由于生产问题，显示面板上的OLED和TFT会呈现出不均匀的表现。如果在生产面板时(例如，在制造期间或紧随制造之后)可以识别出缺陷和不均匀性，则可以解决这种问题。

发明内容

提供了这样的一种系统：该系统用于在制造期间或紧随制造之后检测具有薄膜晶体管(TFT)和发光器件(OLED)的显示面板的至少一部分，从而能够对制造过程进行调节以避免缺陷和不均匀性。所述系统设置有位于显示面板的至少一部分上的连接至信号线的焊接垫(bonding pad)和沿着显示面板的所选边的探针焊盘(probe pad)。所述探针焊盘通过多个多路复用器连接至所述焊接垫，使得所述探针焊盘的数量小于所述焊接垫的数量。

根据参照附图对各实施例和/或各方面进行的详细说明(接下来将对它们进行简要说明)，对本领域技术人员而言，本发明的前述的和附加的方面及实施方式将是显而易见的。

附图说明

通过阅读下面的详细说明并参照附图，本发明的前述的和其它优点将变得显而易见。

图1是适于接收探针板(probe card)的显示面板的示意性立体图。

图2是图1中示出的显示面板的示意性正视图，该图示出了用于接收探针板的探针焊盘的位置。

图3是连接至用于将探针信号提供至探针焊盘的多路复用器的一对探针焊盘的图。

图4是图3中示出的被连接用来接收显示信号的一个探针焊盘的示意性电路图。

图5是用于进行AMOLED面板的测量以及进行能够用来修复通过该测量的分析而识别出的缺陷的各种修正动作的检测系统的示意图。

图6是具有信号WR的像素电路的示意性电路图。

本发明容许各种修改和替代形式，具体实施方案已通过图中的示例示出，并将在本文中详细地说明。然而，应当理解，本发明不旨在局限于所公开的特定形式。相反地，本发明覆盖落入由所附权利要求所限定的本发明的精神和范围内的所有修改、等同物和替代物。

具体实施方式