[发明专利]一种芯片、非接触式调试系统及其方法在审
申请号: | 201910880784.4 | 申请日: | 2019-09-18 |
公开(公告)号: | CN110488179A | 公开(公告)日: | 2019-11-22 |
发明(设计)人: | 叶伟;吴大畏;李晓强 | 申请(专利权)人: | 深圳市硅格半导体有限公司 |
主分类号: | G01R31/28 | 分类号: | G01R31/28;G08C17/02 |
代理公司: | 暂无信息 | 代理人: | 暂无信息 |
地址: | 518000 广东省深圳市南山区科技南*** | 国省代码: | 广东;44 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 无线模块 总线 芯片 非接触式调试 无线传输方式 芯片检测技术 一体化设备 发送检测 关键作用 检测数据 模块发送 模块通信 无线连接 状态监控 数据线 再连接 检测 连线 指令 诊断 返回 自由 维护 | ||
1.一种芯片,包括总线和至少一个以上功能模块,其特征在于,还包括无线模块,所述无线模块通过总线与各功能模块通信,所述无线模块接收到检测命令后,通过总线向各功能模块发送检测指令,各功能模块通过总线向无线模块返回检测数据,所述无线模块通过无线传输方式发送检测数据。
2.一种非接触式调试系统,包括如权利要求1所述的芯片,其特征在于,还包括无线收发装置和控制终端,所述控制终端用于发送检测命令、接收检测数据和根据检测数据判断功能模块状态,所述无线收发模块通信连接于控制终端和无线模块之间,用于接收控制终端发送无线命令并转发至无线模块,以及接收无线模块发送的检测数据并转发至控制终端。
3.根据权利要求2所述的一种非接触式调试系统,其特征在于,所述无线收发装置通过分时利用信道策略与至少一个无线模块通信。
4.一种非接触式调试方法,其特征在于,所述方法包括如下步骤:
S2:控制终端向无线收发装置发送检测命令;
S3:无线收发装置将检测命令转发至无线模块;
S4:无线模块通过总线将检测指令发送至各功能模块,各功能模块通过总线返回检测数据至无线模块;
S5:无线模块将检测数据发送至无线收发装置;
S6:无线收发装置,将检测数据转发至数据终端。
5.根据权利要求4所述的一种非接触式方法,其特征在于,在所述步骤S2之前,还包括:
S1:控制终端通过无线收发装置向至少一个无线模块发送扫描信号,无线模块接收到扫描信号后通过无线收发装置向控制终端发送携带唯一识别码的答复信号,所述唯一识别码用于区分无线模块。
6.根据权利要求5所述的一种非接触式调试方法,其特征在于,所述步骤S2具体为:控制终端根据用户操作发送包含用户所要检测的无线模块对应的唯一识别码的检测命令至无线收发装置。
7.根据权利要求6所述的一种非接触式调试方法,其特征在于,所述步骤S3具体为:无线转发装置接收包含唯一识别码的检测命令,转发至对应唯一识别码的无线模块。
8.根据权利要求7所述的一种非接触式调试方法,其特征在于,所述步骤S5具体为:无线模块将包含唯一识别码的检测数据发送至无线收发装置。
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