[发明专利]显示设备在审
申请号: | 201910884724.X | 申请日: | 2019-09-19 |
公开(公告)号: | CN111063308A | 公开(公告)日: | 2020-04-24 |
发明(设计)人: | 姜根午;李大植;片奇铉;韩颂伊 | 申请(专利权)人: | 三星显示有限公司 |
主分类号: | G09G3/3266 | 分类号: | G09G3/3266;G09G3/36 |
代理公司: | 北京英赛嘉华知识产权代理有限责任公司 11204 | 代理人: | 王达佐;刘铮 |
地址: | 韩国*** | 国省代码: | 暂无信息 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 显示 设备 | ||
1.显示设备,包括:
显示面板,包括扫描线、数据线和联接至所述扫描线和所述数据线的多个像素;
电压发生器,配置成生成导通电压和截止电压;
扫描控制器,配置成基于所述导通电压、所述截止电压和垂直启动信号生成扫描启动信号;以及
扫描驱动器,配置成基于所述扫描启动信号生成扫描信号并将所述扫描信号提供给所述扫描线中的一条扫描线,
其中,所述扫描控制器配置成在过电流检测时段期间检测所述扫描启动信号的电压电平,并且基于所述扫描启动信号的所述电压电平输出关闭信号。
2.根据权利要求1所述的显示设备,其中,所述扫描控制器包括:
导通晶体管,包括配置成接收所述垂直启动信号的栅电极、联接至开关电路的第一电极以及联接至第一节点的第二电极;
截止晶体管,包括配置成接收所述垂直启动信号的栅电极、配置成接收所述截止电压的第一电极以及联接至所述第一节点的第二电极;
检测晶体管,包括配置成接收所述垂直启动信号的栅电极、联接至所述开关电路的第一电极以及联接至所述第一节点的第二电极;
所述开关电路,配置成将导通电压提供线选择性地联接至所述导通晶体管或所述检测晶体管,所述导通电压提供线配置成提供所述导通电压;
比较器,包括第一输入端子、第二输入端子和输出端子,其中,所述第一输入端子配置成接收所述第一节点的电压,所述第二输入端子配置成接收设定的参考电压,所述输出端子配置成通过将所述第一节点的所述电压与所述参考电压进行比较来输出比较信号;以及
保护电路,配置成基于所述比较信号输出所述关闭信号。
3.根据权利要求2所述的显示设备,其中,所述检测晶体管的漏-源电阻器具有比所述导通晶体管的漏-源电阻器大的电阻。
4.根据权利要求2所述的显示设备,其中,所述开关电路配置成在所述过电流检测时段期间将所述导通电压提供线联接至所述检测晶体管,并且配置成在驱动所述显示面板时将所述导通电压提供线联接至所述导通晶体管。
5.根据权利要求2所述的显示设备,其中,所述扫描控制器还包括:
参考电压控制器,配置成控制所述参考电压的电压电平。
6.根据权利要求2所述的显示设备,其中,所述导通晶体管和所述检测晶体管是p沟道金属氧化物半导体晶体管,并且所述截止晶体管是n沟道金属氧化物半导体晶体管。
7.根据权利要求6所述的显示设备,其中,所述扫描控制器还包括:
非门,联接至所述导通晶体管的所述栅电极、所述截止晶体管的所述栅电极和所述检测晶体管的所述栅电极,并且所述非门配置成使所述垂直启动信号反相。
8.根据权利要求2所述的显示设备,其中,所述导通晶体管和所述检测晶体管是n沟道金属氧化物半导体晶体管,并且所述截止晶体管是p沟道金属氧化物半导体晶体管。
9.根据权利要求2所述的显示设备,其中,所述保护电路配置成在所述垂直启动信号下降时检测所述比较信号。
10.根据权利要求1所述的显示设备,其中,所述过电流检测时段是所述显示设备的通电时段。
11.根据权利要求1所述的显示设备,其中,所述过电流检测时段是帧中的垂直消隐时段。
12.根据权利要求1所述的显示设备,其中,所述扫描控制器配置成基于时钟控制信号生成时钟信号和时钟条信号,并且配置成将所述时钟信号和所述时钟条信号提供给所述扫描驱动器。
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