[发明专利]空间光束绝对位置测量装置及校准方法

权利要求书

1.空间光束绝对位置测量装置及校准方法，其特征在于，包括光束绝对位置测量机构；

所述光束绝对位置测量机构包括基板(5)、透镜组(2)、半反半透镜组件(4)以及两组反射镜组件(1)、第一四象限探测器(3)以及第二四象限探测器(6)；

所述透镜组(2)、半反半透镜组件(4)以及反射镜组件(1)分别固定在基板(5)上，所述透镜组(2)放置在基板(5)的最前端，所述半反半透镜固定在透镜组(2)后，所述第一四象限探测器(3)放置在半反半透镜组件(4)上方，两组所述反射镜设置在半反半透镜组件(4)的后方，所述第二四象限探测器(6)放置在反射镜组件(1)后侧一端。

2.根据权利要求1所述的空间光束绝对位置测量装置及校准方法，其特征在于，所述反射镜组件(1)包括支撑座(1-1)，反射镜(1-3)以及压圈(1-2)；

所述支撑座(1-1)的底部与基板(5)螺旋连接，反射镜(1-3)放置在支撑座(1-1)内，所述压圈(1-2)设置在支撑座(1-1)的内部进行限位。

3.根据权利要求1所述的空间光束绝对位置测量装置及校准方法，其特征在于，所述透镜组(2)包括凸透镜(2-1)、凸透镜镜框(2-2)、隔圈(2-3)、透镜组座(2-4)、凹透镜(2-5)以及凹透镜镜框(2-6)；

凸透镜2-1及凹透镜(2-5)分别固定在对应的凸透镜镜框(2-2)以及凹透镜镜框(2-6)中，凸透镜(2-1)与凹透镜(2-5)的轴向位置精度通过隔圈(2-3)来固定，透镜组座(2-4)通过多个螺钉与基板(5)连接固定。

4.根据权利要求1、2或3所述的测量装置上的校准方法，其特征在于，所述校准方法包括以下步骤：

步骤一：采用一束稳定的外部准直光作为校准光束，并在铟钢基板上建立起该装置的参考坐标系。

步骤二：将该光束测量装置绕校准光束旋转并移动，记录参考坐标系原点位置。拟合出校准光束在全局坐标系下的位置。

步骤三：通过坐标变换，将光束变换到参考坐标系下，由此找到光束在参考坐标系下的位置参数。

5.根据权利要求1或2所述的空间光束绝对位置测量装置及校准方法，其特征在于，所述基板(5)材质为铟钢。