[发明专利]采用非侵入方式测量电气设备内部温度的方法及系统

权利要求书

1.一种采用非侵入方式测量电气设备内部温度的方法，其特征在于，所述方法包括：

于所述电气设备的表面涂敷一层碳素材料；

获取经所述碳素材料涂覆后的电气设备表面发射的红外辐射能量；

对所述红外辐射能量进行处理、分析以获取所述电气设备内部的温度。

2.根据权利要求1所述的采用非侵入方式测量电气设备内部温度的方法，其特征在于，还包括：

对所述电气设备表面发射红外辐射能量进行聚焦；

将聚焦后的所述红外辐射能量中的杂散光进行滤除。

3.根据权利要求2所述的采用非侵入方式测量电气设备内部温度的方法，其特征在于，所述对所述红外辐射能量进行处理、分析以获取所述电气设备内部的温度的步骤，包括：

获取经聚焦、滤除处理后的与所述红外辐射能量对应的温度数据；

对所述温度数据进行温度补偿和数据修正处理；

以处理后的所述温度数据作为所述电气设备内部的温度。

4.根据权利要求1所述的采用非侵入方式测量电气设备内部温度的方法，其特征在于，还包括：

判断所述电气设备内部的温度是否超过第一预设阈值，响应于所述温度没有超过所述第一预设阈值，则输出第一警示信号。

5.根据权利要求4所述的采用非侵入方式测量电气设备内部温度的方法，其特征在于，还包括：

响应于所述温度超过所述第一预设阈值，则再判断所述温度是否超过第二预设阈值；其中，所述第二预设阈值大于所述第一预设阈值；

响应于所述温度超出所述第二预设阈值，则输出第二警示信号。

6.根据权利要求5所述的采用非侵入方式测量电气设备内部温度的方法，其特征在于，还包括：

在预设时间间隔内将超过所述第二预设阈值的温度数据发送至运维人员的终端设备上。

7.一种采用非侵入方式测量电气设备内部温度的系统，其特征在于，所述电气设备表面涂敷有一层碳素材料；所述系统包括：

光电探测单元，所述光电探测单元用于获取经所述碳素材料涂覆后的电气设备表面发射的红外辐射能量，并将所述红外辐射能量转换成相对应的电信号；

处理器，与所述光电探测单元电连接，用于对所述电信号进行处理、分析以获取与所述电信号对应的温度数据。

8.根据权利要求7所述的系统，其特征在于，还包括：

光学单元，设于所述电气设备和所述光电探测单元之间，用于对所述电气设备表面发射红外辐射能量进行聚焦、并将聚焦后的所述红外辐射能量中的杂散光进行滤除。

9.根据权利要求7所述的系统，其特征在于，还包括：

驱动单元，与所述光电探测单元固定连接，用于驱动所述光电探测单元沿预设方向转动以扫描所述电气设备发射的红外辐射能量。

10.根据权利要求7所述的系统，其特征在于，所述处理器还用于在所述电气设备内部的温度超过预设阈值时发出警示信号；所述系统还包括：

警示单元，与所述处理器连接，用于接收并响应所述警示信号，产生视觉和/或听觉警示信号。