[发明专利]一种检测超导电缆的失超的方法和系统

权利要求书

1.一种检测超导电缆的失超的方法，其特征在于，所述方法包括：

采集超导电缆的超导传输层和屏蔽层的电流波形；

在检测时长t_m内，分别对超导电缆的超导传输层和屏蔽层的电流波形选取n个采样点，生成超导传输层电流波形采样点的集合A＝{a₁，a₂，…a_n}和屏蔽层的电流波形采样点的集合B＝{b₁，b₂，…b_n}，计算集合A和集合B之间的Hausdorff距离，并将所述Hausdorff距离作为超导电缆的超导传输层和屏蔽层的电流波形之间的Hausdorff距离瞬时值，其中，检测时长的起始时间为t₁＝(i-1)×t_m/n，检测时长的结束时间为t₂＝t_m+(i-1)×t_m/n，i的初始值为1；

根据K个连续检测时长t_m内的超导传输层和屏蔽层的电流波形之间的Hausdorff距离瞬时值计算Hausdorff距离平均值h_ave，其中，1≤K≤n；

比较所述Hausdorff距离平均值h_ave与失超检测门槛值H_set，当所述距离平均值h_ave大于失超检测门槛值H_set时，确定所述超导电缆为失超状态。

2.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，所述方法在采集超导电缆的超导传输层和屏蔽层的电流波形之前还包括：确定检测超导电缆失超的参数，所述参数包括检测时长t_m、电流波形采样点个数n和失超检测门槛值H_set。

3.根据权利要求2所述的方法，其特征在于，所述确定失超检测门槛值H_set包括：

在超导电缆正常运行时，采集超导电缆的超导传输层和屏蔽层的电流波形；

在检测时长t_m内，分别对超导电缆的超导传输层和屏蔽层的电流波形选取n个采样点，生成超导传输层电流波形采样点的集合A＝{a₁，a₂，…a_n}和屏蔽层的电流波形采样点的集合B＝{b₁，b₂，…b_n}，计算集合A和集合B之间的Hausdorff距离，并将所述Hausdorff距离作为超导电缆的超导传输层和屏蔽层电流波形之间的Hausdorff距离瞬时值，其中，检测时长的起始时间为t₁＝(i-1)×t_m/n，检测时长的结束时间为t₂＝t_m+(i-1)×t_m/n，i的初始值为1；

根据K个连续检测时长t_m内的超导传输层和屏蔽层电流波形之间的Hausdorff距离瞬时值计算Hausdorff距离平均值h_ave；

将所述Hausdorff距离平均值h_ave平均与失超检测系数相乘的积作为失超检测门槛值H_set，其中，失超检测系数为常数值。

4.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，通过安装在超导电缆的超导传输层和屏蔽层上的电流互感器采集超导电缆的超导传输层和屏蔽层的电流波形。