[发明专利]一种主动式恒力触测的扫描传感器及其使用方法有效
申请号: | 201910889258.4 | 申请日: | 2019-09-19 |
公开(公告)号: | CN110631505B | 公开(公告)日: | 2020-06-19 |
发明(设计)人: | 郭俊康;郑维康;刘志刚 | 申请(专利权)人: | 西安交通大学 |
主分类号: | G01B11/24 | 分类号: | G01B11/24 |
代理公司: | 西安通大专利代理有限责任公司 61200 | 代理人: | 李鹏威 |
地址: | 710049 *** | 国省代码: | 陕西;61 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 一种 主动 恒力 扫描 传感器 及其 使用方法 | ||
1.一种主动式恒力触测的扫描传感器,其特征在于:包括非接触传感器(1)、第一固定座(2)、线弹性形变机构(3)、微纳测针(4)和压电陶瓷(6);所述线弹性形变机构(3)包括中间臂、第一侧臂(33)和第二侧臂(34),所述第一侧臂(33)的一端连接在所述中间臂的一侧上,且在连接点处将所述中间臂分为长臂(31)和短臂(32),所述第二侧臂(34)的一端连接在所述中间臂的另一侧上,且所述第一侧臂(33)与所述第二侧臂(34)相对于所述中间臂对称设置;
所述第一侧臂(33)与所述第二侧臂(34)分别与所述第一固定座(2)的下端面固定连接,且所述中间臂的上端面与所述第一固定座(2)的下端面之间预留有间隙,所述间隙用于给所述长臂(31)和所述短臂(32)提供形变空间;所述微纳测针(4)的一端与所述中间臂的下端面垂直连接,且所述微纳测针(4)的测针针尖(41)的指向与所述长臂(31)的延伸方向一致;所述压电陶瓷(6)位于所述短臂(32)末端的正下方,且所述压电陶瓷(6)发生形变时能够使所述短臂(32)的末端发生沿垂直于所述第一固定座(2)下端面方向的形变位移;所述非接触传感器(1)位于所述长臂(31)末端的正上方,且所述长臂(31)的末端发生沿垂直于所述第一固定座(2)下端面方向的形变位移时,始终处于所述非接触传感器(1)测量范围内。
2.根据权利要求1所述的一种主动式恒力触测的扫描传感器,其特征在于:所述第一侧臂(33)、第二侧臂(34)和中间臂位于同一平面,且所述第一侧臂(33)与所述长臂(31)之间的夹角为40°至60°,所述第二侧臂(34)与所述长臂(31)之间的夹角为40°至60°。
3.根据权利要求2所述的一种主动式恒力触测的扫描传感器,其特征在于:所述第一侧臂(33)与所述长臂(31)之间连接有加强臂(35),且所述加强臂(35)与所述第一侧臂(33)和所述长臂(31)围成内等腰三角形;所述第二侧臂(34)与所述长臂(31)之间连接有加强臂(35),且所述加强臂(35)与所述第二侧臂(34)和所述长臂(31)围成内等腰三角形。
4.根据权利要求1所述的一种主动式恒力触测的扫描传感器,其特征在于:所述第一固定座(2)的下端面上设置有两个凸块(21),每个所述凸块(21)的高度为100μm-200μm,所述第一侧臂(33)远离所述中间臂的一端固定连接在其中一个所述凸块(21)上,所述第二侧臂(34)远离所述中间臂的一端固定连接在另一个所述凸块(21)上。
5.根据权利要求1所述的一种主动式恒力触测的扫描传感器,其特征在于:所述中间臂的下端面上开设有第一通孔(36),所述第一通孔(36)位于所述第一侧臂(33)和第二侧臂(34)与所述中间臂交接的位置处,所述微纳测针(4)的一端伸进所述第一通孔(36)后与所述中间臂连接。
6.根据权利要求1所述的一种主动式恒力触测的扫描传感器,其特征在于:所述第一固定座(2)上开设有第二通孔(22),所述第二通孔(22)位于所述长臂(31)末端的正上方,所述非接触传感器(1)设置在所述第二通孔(22)内。
7.根据权利要求1所述的一种主动式恒力触测的扫描传感器,其特征在于:所述微纳测针(4)的刚性大于所述线弹性形变机构(3)的刚性。
8.根据权利要求1所述的一种主动式恒力触测的扫描传感器,其特征在于:所述压电陶瓷(6)的下端面设置在第二固定座(5)的上端面上,所述第二固定座(5)位于所述短臂(32)的下方。
9.根据权利要求1所述的一种主动式恒力触测的扫描传感器,其特征在于:所述微纳测针(4)的测针针尖(41)为锥形,且所述测针针尖(41)上涂覆有硬质氧化涂层。
10.根据权利要求1~9任一项所述的一种主动式恒力触测的扫描传感器的使用方法,其特征在于:使所述微纳测针(4)的测针针尖(41)与被测样本的被测面接触,调节所述压电陶瓷(6)的驱动电压,使所述压电陶瓷(6)的上端面与所述短臂(32)的下端面产生弹性接触,且使驱动电压处于动态平衡中,保证此时的微纳测针(4)处于连续的平衡稳定状态;
当被测样本沿扫描方向运动,所述测针针尖(41)与被测样本表面之间的下一个触测点与前触测点不相同时,微纳测针(4)的平衡稳定状态被打破,此时,利用所述压电陶瓷(6)的驱动电压与位移量的标定曲线,改变驱动电压,使所述压电陶瓷(6)发生形变,进而使所述短臂(32)沿垂直于所述第一固定座(2)下端面的方向发生形变位移,进而使微纳测针(4)达到新的平衡稳定状态。
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