[发明专利]用于时间交错的ADC的交错误差的背景或盲校准中的基于直方图的数据鉴定

说明书

本公开涉及用于时间交错的ADC的交错误差的背景或盲校准中的基于直方图的数据鉴定。ADC可以包括多个时间交错的ADC，以提高ADC的整体采样率。这样的ADC可能具有交错误差，因为ADC中的时间交错的ADC并不总是完全匹配。校准这些不匹配的一种方法是在背景中或更广泛地观察时间交错的ADC的数字输出信号，而不知道ADC的输入信号(通常称为“盲”校准)。由于这些校准的性质，当输入信号具有某些有问题的输入条件(例如某个相干输入频率)时，校准的性能将显着降低。为了解决这个问题，用于校准交错误差的数据可以通过鉴定过程来评估是否基于数据更新误差估计。

技术领域

本发明涉及集成电路领域，尤其涉及用于时间交错的模数转换器的交错误差的背景或盲校准中的技术。

背景技术

在许多电子应用中，模数转换器(ADC)将模拟输入信号转换为数字输出信号，例如，用于通过数字电子设备进行进一步的数字信号处理或存储。一般而言，ADC可以转换表示现实世界现象的模拟电信号，例如光、声音、温度、电磁波或压力，以用于数据处理目的。例如，在测量系统中，传感器进行测量并生成模拟信号。然后将模拟信号作为输入提供给ADC，以产生数字输出信号以供进一步处理。在另一个例子中，发射机使用电磁波产生模拟信号以在空中传送信息，或者发射机发送模拟信号以通过电缆传送信息。然后将模拟信号作为输入提供给接收器处的ADC，以产生数字输出信号，例如用于由数字电子设备进一步处理。

由于它们在许多应用中具有广泛的适用性，因此可以在诸如宽带通信系统、音频系统、接收器系统等的地方找到ADC。设计ADC是一项非常重要的任务，因为每个应用可能在性能、功耗、成本和尺寸方面都有不同的需求。ADC广泛应用于通信、能源、医疗保健、仪器仪表和测量、电机和电源控制、工业自动化和航空/国防。随着需要ADC的应用的增长，对快速而准确的转换的需求也在增长。设计ADC可能是一项复杂且具有挑战性的任务。

附图说明

为了更完整地理解本公开及其特征和优点，结合附图参考以下描述，其中相同的附图标记表示相同的部分，其中：

图1示出了根据本公开的一些实施方案的具有M个时间交错的ADC和用于处理M个时间交错的ADC的输出的数字处理的示例性ADC；

图2-6示出了根据本公开的一些实施方案的两个时间交错的ADC，其对具有某些相干输入频率的输入信号进行采样。

图7A-B、8A-B、9A-B、10A-B和11A-G是根据本公开的一些实施方案的从具有各种频率的输入信号产生的数字输出信号的直方图；

图12和13示出了根据本公开的一些实施方案的具有不同信号范围的两个输入信号的输入频率与直方图方差的关系曲线。

图14是示出根据本公开的一些实施方案的用于鉴定用于交错误差的背景/盲校准的数据的示例性方法的流程图；

图15是示出根据本公开的一些实施方案的用于鉴定用于交错误差的背景/盲校准的数据的另一示例性方法的流程图；

图16是示出根据本公开的一些实施方案的用于鉴定数据块的示例性方法的流程图；

图17示出了根据本公开的一些实施方案的鉴定器122内的示例性组件，其可用于实现图15和16的一个或多个部分。

具体实施方式

综述