[发明专利]基于单色X射线衍射的布拉格角测量方法

权利要求书

1.一种基于单色X射线衍射的布拉格角测量方法，所述方法包括以下步骤：

第一步骤(S1)中，在待测样品上放置晶体粉末或者在待测样品旁边放置晶体粉末；

第二步骤(S2)中，移动X射线光源、线探测器和晶体粉末的相对位置，使得线探测器上同时出现n个来自于晶体粉末的衍射峰并测量其在线探测器上的坐标位置，测到待测布拉格角的衍射峰，

第三步骤(S3)，构造方程组：

其中，

i＝1,……,n-1，j＝i+1,……,n，y_i指第i个来自于晶体粉末的衍射峰在X射线线探测器上的坐标位置，k_i表示第i个来自于晶体粉末的衍射峰的理论布拉格角的余弦值，求解方程组，得t₁，t₂，t₃和t₄的值；

第四步骤(S4)，当晶体粉末涂覆于待测样品表面，直接获得待测布拉格角的衍射峰在线探测器上的坐标位置y，当晶体粉末置于样品旁边，通过移动待测样品至晶体粉末表面X射线照射点后，测量待测布拉格角的衍射峰在线探测器上的坐标位置y；

第五步骤(S5)，根据衍射峰在线探测器上的坐标位置y得到布拉格角2θ，布拉格角2θ为：

2.根据权利要求1所述的方法，其中，第三步骤(S3)，建立空间直角坐标系，其中线探测器沿着y轴正半轴放置，且一端位于坐标系原点，其面法线方向为z轴正方向，晶体粉末表面X射线照射点位置坐标为(a b c)，入射X射线方向向量为(u v w)且该向量为单位向量，所述方程组中

3.根据权利要求1所述的方法，其中，晶体粉末包括氧化铝粉末、硅粉末、碳酸钙粉末和/或锂镧锆氧粉末。

4.根据权利要求1所述的方法，其中，第一步骤(S1)中，晶体粉末形成溶液、乳浊液或悬浊液，再喷洒于待测样品表面，最后干燥。

5.根据权利要求1所述的方法，其中，第一步骤(S1)中，通过气流将晶体粉末喷洒于待测样品表面或者晶体粉末经由黏贴层黏贴于待测样品表面。

6.根据权利要求1所述的方法，其中，第三步骤(S3)中，至少测量4个来自晶体粉末的衍射峰求解所述方程组。

7.根据权利要求1所述的方法，其中，第四步骤(S4)中，使用高斯分布对测得的衍射峰峰形拟合，所得高斯分布的中心即为衍射峰在线探测器上的坐标位置。

8.根据权利要求1所述的方法，其中，第三步骤(S3)中，所述待测样品为单晶、定向晶或多晶。