[发明专利]误码率检测的方法和装置在审
申请号: | 201910891312.9 | 申请日: | 2019-09-20 |
公开(公告)号: | CN112543080A | 公开(公告)日: | 2021-03-23 |
发明(设计)人: | 孙德胜;丁力 | 申请(专利权)人: | 华为技术有限公司 |
主分类号: | H04L1/20 | 分类号: | H04L1/20 |
代理公司: | 北京龙双利达知识产权代理有限公司 11329 | 代理人: | 陈洪艳;王君 |
地址: | 518129 广东*** | 国省代码: | 广东;44 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 误码率 检测 方法 装置 | ||
1.一种误码率检测的方法,其特征在于,包括:
第一设备将第一待发送数据分发至M个并行数据通道,得到M个并行数据比特,M为大于1的正整数;
所述第一设备根据所述M个并行数据比特生成所述第一待发送数据对应的P个第一比特交织奇偶校验BIP校验比特,其中,所述M个并行数据比特中每一个并行数据比特中连续的P个数据比特对应不同的第一BIP校验比特;
所述第一设备通过所述M个并行数据通道向第二设备发送所述M个并行数据比特和所述P个第一BIP校验比特。
2.根据权利要求1所述的方法,其特征在于,所述M个并行数据比特中第i个并行数据比特中第k个数据比特和第j个并行数据比特中第k个数据比特对应所述第一BIP校验比特中的同一个校验比特,其中,i、j为小于或等于M的正整数且i不等于j,k为小于或等于Q*P的正整数,Q为所述第i个并行数据比特中包括P个连续数据比特的个数和所述第j个并行数据比特中包括P个连续数据比特的个数中的较小值。
3.根据权利要求1或2所述的方法,其特征在于,所述M个并行数据比特中第t个并行数据比特中第h个数据比特和第h+P个数据比特对应所述第一BIP校验比特中的同一个校验比特,其中,t为小于或等于M的正整数,h为小于或等于(W-1)*P的正整数,W为所述第t个并行数据比特中包括P个连续数据比特的个数。
4.根据权利要求1至3中任一项所述的方法,其特征在于,所述第一设备根据所述M个并行数据比特生成所述第一待发送数据对应的P个比特交织奇偶校验BIP校验比特,包括:
所述第一设备将所述M个并行数据比特中每一个并行数据比特以P为单位分成V组,得到V个第一数据比特组,其中,所述V个第一数据比特组中每一个第一数据比特组包括P个数据比特,V为正整数;
所述第一设备根据所述第一数据比特组生成所述第一待发送数据对应的第二数据比特组,其中,所述VM个第一数据比特组依次为所述第二数据比特组的前VM个数据比特组。
5.根据权利要求4所述的方法,其特征在于,所述第一设备根据所述第一数据比特组生成所述第一待发送数据对应的第二数据比特组,其中,所述VM个第一数据比特组依次为所述第二数据比特组的前VM个数据比特组,包括:
所述第一设备取所述M个并行数据比特中每一个并行数据比特的第K个第一数据比特组依次放置在所述第二数据比特组的第(K-1)M+1至MK个数据比特组中,其中,所述K为小于或等于V的正整数。
6.根据权利要求1所述的方法,其特征在于,第二数据比特组还包括第三数据比特组,其中,所述第三数据比特组包括VM个第一数据比特组中数据比特个数小于P的第一数据比特组中的数据比特。
7.根据权利要求6所述的方法,其特征在于,所述第一设备根据所述M个并行数据比特生成所述第一待发送数据对应的P个第一比特交织奇偶校验BIP校验比特,包括:
所述第一设备将所述M个并行数据比特中每一个并行数据比特以P为单位分成V组,得到V个第一数据比特组,其中,所述第V个第一数据比特组包括Q个数据比特,V为正整数,Q为小于P的正整数;
所述第一设备取所述M个并行数据比特中每一个并行数据比特的前V-1个第一数据比特组依次放置在所述第二数据比特组的前(V-1)M个数据比特组中;
所述第一设备将所述M个并行数据比特中每一个并行数据比特的第V个第一数据比特组中的数据比特拼接成一个数据比特串;
所述第一设备将所述数据比特串以P为单位依次从所述第三数据比特组的开始位置放置直至所述数据比特串的最后一个数据比特,其中,所述第三数据比特组的开始位置为所述第二数据比特组的第(V-1)M+1个数据比特组。
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