[发明专利]基于图像特征自动选择谱线的激光探针分类方法及装置有效

专利信息
申请号: 201910891729.5 申请日: 2019-09-20
公开(公告)号: CN110751048B 公开(公告)日: 2022-06-14
发明(设计)人: 李祥友;闫久江;刘坤;李殊涵;张闻;周冉;李青洲;李阳;曾晓雁;王泽敏;高明 申请(专利权)人: 华中科技大学
主分类号: G06K9/00 分类号: G06K9/00;G06K9/62
代理公司: 华中科技大学专利中心 42201 代理人: 孔娜;曹葆青
地址: 430074 湖北*** 国省代码: 湖北;42
权利要求书: 查看更多 说明书: 查看更多
摘要:
搜索关键词: 基于 图像 特征 自动 选择 激光 探针 分类 方法 装置
【说明书】:

发明属于激光探针成分分析相关技术领域,其公开了一种基于图像特征自动选择谱线的激光探针分类方法及装置,该方法包括以下步骤:(1)采集样品的等离子体光谱,并对所述等离子体光谱进行图像化处理以得到光谱图像;(2)对所述光谱图像进行图像特征及图像特征坐标提取,并依据图像特征与分析线实际波长的线性对应关系,将所提取的图像特征坐标转换为分析线的实际波长;(3)提取分析线的光谱强度,并将得到的分析线的强度及分类算法相结合来构建分类模型,进而采用所述分类模型对待分类产品进行分类。本发明提高了分类效率及分类精度,自动化程度较高,且在提高选线效率的同时有效避免人为因素。

技术领域

本发明属于激光探针成分分析相关技术领域,更具体地,涉及一种基于图像特征自动选择谱线的激光探针分类方法及装置。

背景技术

激光探针即激光诱导击穿光谱技术(Laser-induced breakdown spectroscopy,简称LIBS),它是一种利用激光聚焦在样品表面产生的等离子体光谱来分析物质成分及含量的元素分析技术。激光探针技术相比于传统的化学分析技术如XRD(X-raydiffraction)、XRF(X Ray Fluorescence)、ICP-MS(Inductively coupled plasma-MassSpectrometry)等具有制样简单、可以实现原位快速检测等优点。LIBS技术在农残检测、地质勘测、岩石矿石检测等领域已经应用非常广泛,其分析方法相关的研究也有迅速的发展。

在基于LIBS技术的定量或者定性分析中,分析线的选择对分析结构有至关重要的影响。在LIBS技术中,目前常用的选线方法仍为传统的手动选线法,手动选线法一般是通过对光谱强度、背景强度、信背比、信噪比以及是否有自吸收等多重因素的综合判断来选择分析线,因此,手动选线具有较高的准确率。目前,本领域的相关研究人员已经做了一些研究,例如论文《Quantitative analysis of Lead Zirconate Titanate(PZT)ceramics bylaser-induced breakdown spectroscopy(LIBS)in combination with multivariatecalibration》(Rafael,Microchemical Journal 130(2017):21-26.)公开了一种基于手动选线和PLS算法的元素多元分析方法,并对陶瓷中的铅、锆、钛等元素进行了定量分析,但是该方法的缺点也十分明显,例如手动选线需要对目标谱线进行逐一判断,因此选线效率较低;而且该方法非常依赖选线经验,分析结果受人为影响比较明显。现有的自动选线法也有了一定的发展,如论文《In situ classification of rocks using stand-off laserinduced breakdown spectroscopy with a compact spectrometer》(W.T.Li等人,Journal of Analytical Atomic Spectrometry 33.3(2018):461-467.)也提出了一种基于小波变换算法的自动选线法,并以此结合LDA算法进行了岩石分类。然而,在LIBS技术中,自动选线法还不成熟,尚未有能普遍应用且具有标准化操作流程的方法,基于自动选线的分类方法也相对比较少。

发明内容

针对现有技术的以上缺陷或改进需求,本发明提供了一种基于图像特征自动选择谱线的激光探针分类方法及装置,其是解决现有分类方法中选线效率低、选线结果容易受人为因素影响,导致分析过程耗时长、分析性能差的问题。所述分析方法可以使分类前的选线过程自动进行,在提高选线效率的同时有效避免人为因素,从而提高了分类效率及分类精度。

为实现上述目的,按照本发明的一个方面,提供了一种基于图像特征自动选择谱线的激光探针分类方法,该激光探针分类方法包括以下步骤:

(1)采集样品的等离子体光谱,并对所述等离子体光谱进行图像化处理以得到光谱图像;

下载完整专利技术内容需要扣除积分,VIP会员可以免费下载。

该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息,商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于华中科技大学,未经华中科技大学许可,擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作,请联系【客服

本文链接:http://www.vipzhuanli.com/pat/books/201910891729.5/2.html,转载请声明来源钻瓜专利网。

×

专利文献下载

说明:

1、专利原文基于中国国家知识产权局专利说明书;

2、支持发明专利 、实用新型专利、外观设计专利(升级中);

3、专利数据每周两次同步更新,支持Adobe PDF格式;

4、内容包括专利技术的结构示意图流程工艺图技术构造图

5、已全新升级为极速版,下载速度显著提升!欢迎使用!

请您登陆后,进行下载,点击【登陆】 【注册】

关于我们 寻求报道 投稿须知 广告合作 版权声明 网站地图 友情链接 企业标识 联系我们

钻瓜专利网在线咨询

周一至周五 9:00-18:00

咨询在线客服咨询在线客服
tel code back_top