[发明专利]半导体装置在审

专利信息
申请号: 201910893164.4 申请日: 2019-09-20
公开(公告)号: CN110957364A 公开(公告)日: 2020-04-03
发明(设计)人: 杨世海;徐志安;林佑明;王志豪 申请(专利权)人: 台湾积体电路制造股份有限公司
主分类号: H01L29/78 分类号: H01L29/78;H01L21/336
代理公司: 隆天知识产权代理有限公司 72003 代理人: 韩旭;黄艳
地址: 中国台*** 国省代码: 台湾;71
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摘要:
搜索关键词: 半导体 装置
【权利要求书】:

1.一种半导体装置,包括:

一栅极结构,形成于一半导体层的一表面上,该栅极结构包括:

一介电结构,形成于该半导体层的该表面上;

一金属结构,该金属结构的一底端接触该介电结构的一顶端;以及

一绝缘结构,该绝缘结构的一底端接触该金属结构的一顶端,且该绝缘结构于该金属结构的该顶端之上突出;以及

一间隔结构,配置为在该绝缘结构的该底端下方延伸,且接触该金属结构的一侧壁。

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