[发明专利]半导体装置在审
申请号: | 201910893164.4 | 申请日: | 2019-09-20 |
公开(公告)号: | CN110957364A | 公开(公告)日: | 2020-04-03 |
发明(设计)人: | 杨世海;徐志安;林佑明;王志豪 | 申请(专利权)人: | 台湾积体电路制造股份有限公司 |
主分类号: | H01L29/78 | 分类号: | H01L29/78;H01L21/336 |
代理公司: | 隆天知识产权代理有限公司 72003 | 代理人: | 韩旭;黄艳 |
地址: | 中国台*** | 国省代码: | 台湾;71 |
权利要求书: | 查看更多 | 说明书: | 查看更多 |
摘要: | |||
搜索关键词: | 半导体 装置 | ||
【权利要求书】:
1.一种半导体装置,包括:
一栅极结构,形成于一半导体层的一表面上,该栅极结构包括:
一介电结构,形成于该半导体层的该表面上;
一金属结构,该金属结构的一底端接触该介电结构的一顶端;以及
一绝缘结构,该绝缘结构的一底端接触该金属结构的一顶端,且该绝缘结构于该金属结构的该顶端之上突出;以及
一间隔结构,配置为在该绝缘结构的该底端下方延伸,且接触该金属结构的一侧壁。
下载完整专利技术内容需要扣除积分,VIP会员可以免费下载。
该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息,商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于台湾积体电路制造股份有限公司,未经台湾积体电路制造股份有限公司许可,擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作,请联系【客服】
本文链接:http://www.vipzhuanli.com/pat/books/201910893164.4/1.html,转载请声明来源钻瓜专利网。
- 上一篇:半导体装置的形成方法
- 下一篇:电气设备和电磁继电器
- 同类专利
- 专利分类