[发明专利]平整度测量装置及测量方法

权利要求书

1.一种平整度测量装置，其特征在于，包括：

支架，所述支架的底部设置有基准部(8)，所述基准部(8)的底面贴靠在待铺贴设备(11)的上表面上；

两个距离传感部，两个所述距离传感部均安装在所述基准部(8)上，两个所述距离传感部分别用于对已铺贴设备(12)进行测距；

其中，利用所述平整度测量装置对平整度进行测量的方法包括：标定步骤：将所述支架安装在待铺贴设备的上表面上；

通过所述距离传感部对待铺贴设备(11)测距得到第一距离值A，并设定一个定值B；

通过所述距离传感部对标准件测距得到第二距离值A1，其中，所述标准件在所述支架的下方，所述标准件的高度为E1，并依据所述定值B和所述高度E1得出差值B1，从而得到对应数据(A1，B1)，其中，所述B1＝B-E1；

通过调整所述标准件的高度E1，得出多组所述对应数据(A1，B1)；

分别将多组对应数据(A1，B1)代入线性关系式y＝ax+b，得到a和b，其中，y为B1，x为A1，a为安装角度，b为补偿高度所述方法还包括：

测量步骤，通过所述距离传感部对已铺贴设备(12)进行测距，以得到两个距离数据d1，d2；

计算步骤，将所述d1和所述d2作为x，分别待入y＝ax+b，计算得出对应值D1和D2，待铺贴设备(11)与已铺贴设备(12)之间的高度差为D＝D1-D2。

2.根据权利要求1所述的平整度测量装置，其特征在于，所述平整度测量装置还包括：

角度传感部(9)，所述角度传感部(9)安装在所述基准部(8)上，以测量所述基准部(8)的倾斜角度。

3.根据权利要求1所述的平整度测量装置，其特征在于，所述距离传感部包括激光位移传感器(4)，所述支架包括横梁(1)，所述激光位移传感器(4)安装在所述横梁(1)上。

4.根据权利要求3所述的平整度测量装置，其特征在于，所述距离传感部还包括连接架(3)，所述连接架(3)安装在所述横梁(1)上，所述连接架(3)朝向所述已铺贴设备方向延伸，两个所述激光位移传感器(4)一一对应地安装在两个所述连接架(3)上。

5.根据权利要求4所述的平整度测量装置，其特征在于，所述距离传感部还包括安装架(7)，所述激光位移传感器(4)安装在所述安装架(7)的第一端，所述安装架(7)的第一端与所述连接架(3)连接，所述安装架(7)的第二端与所述基准部(8)连接。

6.根据权利要求5所述的平整度测量装置，其特征在于，所述距离传感部还包括压簧(2)，所述压簧(2)的第一端与所述连接架(3)连接，所述压簧(2)的第二端与所述安装架(7)连接。

7.根据权利要求2所述的平整度测量装置，其特征在于，所述角度传感部(9)为倾角传感器。

8.一种瓷砖平整度测量方法，其特征在于，所述方法采用权利要求2至权利要求7中任一项所述的平整度测量装置，所述方法包括：标定步骤：

将所述支架安装在待铺贴设备的上表面上；

通过所述距离传感部对待铺贴设备(11)测距得到第一距离值A，并设定一个定值B；

通过所述距离传感部对标准件测距得到第二距离值A1，其中，所述标准件在所述支架的下方，所述标准件的高度为E1，并依据所述定值B和所述高度E1得出差值B1，从而得到对应数据(A1，B1)，其中，所述B1＝B-E1；

通过调整所述标准件的高度E1，得出多组所述对应数据(A1，B1)；

分别将多组对应数据(A1，B1)代入线性关系式y＝ax+b，得到a和b，其中，y为B1，x为A1，a为安装角度，b为补偿高度所述方法还包括：

测量步骤，通过所述距离传感部对已铺贴设备(12)进行测距，以得到两个距离数据d1，d2；

计算步骤，将所述d1和所述d2作为x，分别待入y＝ax+b，计算得出对应值D1和D2，待铺贴设备(11)与已铺贴设备(12)之间的高度差为D＝D1-D2。

9.根据权利要求8所述的瓷砖平整度测量方法，其特征在于，所述方法还包括位于所述标定步骤之后的角度测量步骤，所述角度测量步骤包括：通过所述角度传感部(9)测量得到待铺贴设备相对于绝对水平面的倾斜角度。