[发明专利]确定测井曲线齿化率的方法及装置

权利要求书

1.一种确定测井曲线齿化率的方法，其特征在于，所述方法包括：

对砂体的测井曲线进行数据标准化，将数据标准化后的测井曲线形态校正为箱形；

根据形态校正后的测井曲线，利用K均值聚类算法确定正齿、负齿及基线的重心值；

根据预设的识别门槛值与所述正齿、负齿及基线的重心值，确定正齿齿数及负齿齿数；

利用所述正齿齿数及所述负齿齿数，确定所述测井曲线的齿化率。

2.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，所述根据预设的识别门槛值与所述正齿、负齿及基线的重心值，确定正齿齿数及负齿齿数包括：

分别求取正齿重心值及负齿重心值与基线重心值的差值，将两差值的绝对值分别与预设的识别门槛值进行比较，以确定正齿齿数及负齿齿数。

3.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，所述利用所述正齿齿数及所述负齿齿数，确定所述测井曲线的齿化率包括：

利用所述正齿齿数及所述负齿齿数，确定正齿频率、正齿占比、负齿频率及负齿占比；

根据所述正齿频率、正齿占比、负齿频率及负齿占比，确定所述测井曲线的齿化率。

4.根据权利要求3所述的方法，其特征在于，所述根据所述正齿频率、正齿占比、负齿频率及负齿占比，确定所述测井曲线的齿化率包括：根据所述正齿频率、正齿占比、负齿频率及负齿占比，利用齿化率公式确定所述测井曲线的齿化率，所述齿化率公式为：

其中，T_正频为正齿频率，T_正比为正齿占比，T_负频为负齿频率，T_负比为负齿占比。

5.一种确定测井曲线齿化率的装置，其特征在于，所述装置包括：

形态校正模块，用于对砂体的测井曲线进行数据标准化，将数据标准化后的测井曲线形态校正为箱形；

数据分离模块，用于根据形态校正后的测井曲线，利用K均值聚类算法确定正齿、负齿及基线的重心值；

齿数确定模块，用于根据预设的识别门槛值与所述正齿、负齿及基线的重心值，确定正齿齿数及负齿齿数；

齿化率模块，用于利用所述正齿齿数及所述负齿齿数，确定所述测井曲线的齿化率。

6.根据权利要求5所述的装置，其特征在于，所述齿数确定模块包括：

齿数确定单元，用于分别求取正齿重心值及负齿重心值与基线重心值的差值，将两差值的绝对值分别与预设的识别门槛值进行比较，以确定正齿齿数及负齿齿数。

7.根据权利要求5所述的装置，其特征在于，所述齿化率模块包括：

参数确定单元，用于利用所述正齿齿数及所述负齿齿数，确定正齿频率、正齿占比、负齿频率及负齿占比；

齿化率单元，用于根据所述正齿频率、正齿占比、负齿频率及负齿占比，确定所述测井曲线的齿化率。

8.根据权利要求7所述的装置，其特征在于，所述齿化率单元还用于根据所述正齿频率、正齿占比、负齿频率及负齿占比，利用齿化率公式确定所述测井曲线的齿化率。

9.一种计算机设备，包括存储器、处理器及存储在存储器上并可在处理器上运行的计算机程序，其特征在于，所述处理器执行所述计算机程序时实现以下步骤：

对砂体的测井曲线进行数据标准化，将数据标准化后的测井曲线形态校正为箱形；

根据形态校正后的测井曲线，利用K均值聚类算法确定正齿、负齿及基线的重心值；

根据预设的识别门槛值与所述正齿、负齿及基线的重心值，确定正齿齿数及负齿齿数；

利用所述正齿齿数及所述负齿齿数，确定所述测井曲线的齿化率。

10.一种计算机可读存储介质，其上存储有计算机程序，其特征在于，所述计算机程序被处理器执行时实现以下步骤：

对砂体的测井曲线进行数据标准化，将数据标准化后的测井曲线形态校正为箱形；

根据形态校正后的测井曲线，利用K均值聚类算法确定正齿、负齿及基线的重心值；

根据预设的识别门槛值与所述正齿、负齿及基线的重心值，确定正齿齿数及负齿齿数；

利用所述正齿齿数及所述负齿齿数，确定所述测井曲线的齿化率。