[发明专利]一种超高频RFID标签的验证测试方法及装置

说明书

本发明公开一种超高频RFID标签的验证测试方法及装置，该方法包括标签芯片射频测试步骤，步骤包括：S1.配置一可调衰减器及阅读器，可调衰减器的两端分别通过一同轴传输线与待测标签芯片、阅读器连接，构建得到射频测试装置；S2.通过调整可调衰减器的衰减值、阅读器的输出功率，使得待测标签芯片工作在最低功率，并测量最低功率时待测标签芯片的反射系数，根据最低功率、反射系数计算得到待测标签芯片的灵敏度值；调整待测标签芯片与阅读器之间的距离以调整待测标签芯片的入射功率，当入射功率达到计算的灵敏度值时，测量当前待测标签芯片的输入阻抗。本发明具有操作方法简单、实现成本低、验证测试效率以及精度高等优点。

技术领域

本发明涉及超高频RFID(Radio Frequency Identification，射频识别)技术领域，尤其涉 及一种超高频RFID标签的验证测试方法及装置。

背景技术

超高频(Ultra High Frequency,UHF)RFID技术近年来发展迅速，其中860–960MHz频段的ISO/IEC 18000-6C(EPCglobal Class 1Generation 2)超高频RFID空中接口协议由于 功能更趋完善，且应用前景广阔而倍受关注。电子标签(Tag)是RFID系统的重要组成部分， 它与阅读器(Reader)一起组成基本的RFID系统。UHF无源电子标签具体由天线、射频/模 拟前端电路和基带电路三部分组成。标签从天线接收阅读器发射的UHF频段信号，并对接收 信号进行整流、稳压，产生直流电源为其它模块供电。由于标签工作在无源模式下，为降低 硬件复杂度与功耗，系统的正向链路(R＝>T,Reader to Tag)和反向链路(T＝>R,Tagto Reader) 均采用AM调制方式，这使得标签能够利用包络检波的原理对调制信号进行解调，并利用反 向散射的方式对射频信号进行调制，该种调制方式靠改变模拟前端的输入阻抗实现，通过改 变反射系数而改变反射信号的幅度。标签同时需要数字基带电路对通信协议进行处理，并在 非易失存储器中存储EPC码等相关信息。由于标签工作在无源模式下，并且系统对其有高速 读取，远距离工作和大容量存储等要求，因此使之成为系统中技术难点之一，设计符合ISO/IEC 18000-6C协议的高性能无源标签近年来一直是研究的热点问题。

在超高频RFID标签设计、制作完成后需要对其性能进行验证、测试，目前针对超高频 RFID标签的验证测试方法，通常要么测试精度不高，要么测试成本较高，如灵敏度对测试芯 片性能至关重要，传统的灵敏度测试方法中，通常是采用没有经过调制的载波芯片的整流电 路以及后端稳压电路，在产生稳定的Vdd后，芯片的入射功率被认为是灵敏度P_th，然而，由 于未调制的载波不能使基带电路上产生动态能量，所以该类灵敏度P_th测试方法不能获得准确 的结果；为更精确测试灵敏度，通常需要借助于专用设备实现，或者在暗室环境中实现测试 的方法，在暗室环境中实现测试即建立标签和读写器之间的连接后，固定读写器的发射功率 P_TXG_TX、增加通信距离d，或者固定通信距离d、减小P_TXG_TX到临界状态后，用Friis公式计 算再根据式P_th＝GτP_tag计算P_th，但是该类方法中如果无法正确估计G 和τ，则灵敏度计算将导致严重误差。