[发明专利]一种可调节式导波雷达物位计

说明书

本发明公开了一种可调节式导波雷达物位计，包括物位计本体与探棒，所述探棒包括主探棒与延伸探棒，所述主探棒内设有伸缩槽，所述伸缩槽与所述延伸探棒之间设有延伸控制装置。有益效果：通过正反电机依次带动电机轴、螺环杆转动，在滑卡槽与衔接探棒滑卡块的限位作用下，螺纹杆不会转动，并通过螺纹与螺环的相互作用而升降，这样可以智能的调节衔接探棒的升降从而可以调节延伸探棒的升降，这样在测量物位时可以智能控制探棒的深度，便于适应被测介质不同标准深度的的物位测量，本发明装置不仅结构设计合理，而且操作简单，便于适应被测介质不同标准深度的的物位测量，可以普遍推广使用。

技术领域

本发明涉及导波雷达物位计领域，具体来说，涉及一种可调节式导波雷达物位计。

背景技术

导波雷达料位计是依据时域反射原理(TDR)为基础的雷达料位计，雷达料位计的电磁脉冲以光速沿钢缆或探棒传播，当遇到被测介质表面时，雷达料位计的部分脉冲被反射形成回波并沿相同路经返回到脉冲发射装置，发射装置与被测介质表面的距离同脉冲在其间的传播时间成正比，经计算得出液位高度。

常规的导波雷达料位计探棒或钢缆长度固定，这样在实际工作中如果对测量介质标准深度调低后重新进行测量时探棒或钢缆深度不够，这样就会更换探棒或钢缆或者额外增加探棒或钢缆的长度，这样为测量带来了极大的不便，为了解决这个问题，因此需要一种可调节式导波雷达物位计来解决这个问题。

发明内容

本发明的目的在于提供一种可调节式导波雷达物位计，以解决上述背景技术中提出的问题。

本发明的技术方案是这样实现的：

一种可调节式导波雷达物位计，包括物位计本体与探棒，所述探棒包括主探棒与延伸探棒，所述主探棒内设有伸缩槽，所述伸缩槽与所述延伸探棒之间设有延伸控制装置。

进一步的，所述延伸控制装置包括固定设置在所述伸缩槽内的正反电机，所述正反电机下端设有电机轴，所述电机轴下端固定连接有螺环杆。

进一步的，所述螺环杆内设有螺环槽，所述螺环槽内固定设有螺环。

进一步的，所述螺环槽内活动设有螺纹杆，所述螺纹杆上固定设有螺纹，所述螺纹与所述螺环相匹配，所述螺纹与所述螺环活动连接，所述螺纹杆与所述螺环杆之间通过所述螺纹与所述螺环活动连接。

进一步的，所述螺纹杆下端活动设有衔接探棒，所述衔接探棒与所述延伸探棒固定连接。

进一步的，所述螺纹杆下端设有旋转槽，所述旋转槽上端设有旋转卡槽，所述衔接探棒上端固定连接有旋转块，所述旋转块上端固定连接有旋转卡块，所述旋转块与所述旋转槽活动连接，所述旋转卡块与所述旋转卡槽活动连接。

进一步的，所述伸缩槽两侧设有滑卡槽，所述衔接探棒两侧设有衔接探棒滑卡块，所述衔接探棒滑卡块与所述滑卡槽相匹配，所述衔接探棒滑卡块与所述滑卡槽活动连接。

本发明提供了一种可调节式导波雷达物位计，有益效果如下：

（1）、通过正反电机依次带动电机轴、螺环杆转动，在滑卡槽与衔接探棒滑卡块的限位作用下，螺纹杆不会转动，并通过螺纹与螺环的相互作用而升降，这样可以智能的调节衔接探棒的升降从而可以调节延伸探棒的升降，这样在测量物位时可以智能控制探棒的深度，便于适应被测介质不同标准深度的的物位测量，本发明装置不仅结构设计合理，而且操作简单，便于适应被测介质不同标准深度的的物位测量，可以普遍推广使用。

附图说明

为了更清楚地说明本发明实施例或现有技术中的技术方案，下面将对实施例中所需要使用的附图作简单地介绍，显而易见地，下面描述中的附图仅仅是本发明的一些实施例，对于本领域普通技术人员来讲，在不付出创造性劳动的前提下，还可以根据这些附图获得其他的附图。