[发明专利]一种探针针套打套工具

说明书

本发明提出了一种探针针套打套工具，一个主体，其用于固定单个定位件；以及多个定位件，每个所述定位件均具有容纳探针针套伸入的第一空腔且每个第一空腔的深度不同；所述主体与单个所述定位件形成可拆卸的连接。与现有技术相比，本发明提供的探针针套打套工具可敲出不同高度要求的探针针套，并且敲出的探针针套高度统一、稳定。由于去掉了主体上的螺纹，扩大了紧固螺钉与主体的接触面积，使定位件与主体的连接更加稳固不易松动；并且在该工具的使用受到敲击的过程中，受力部位为第一柱的环形顶面与定位部的环形底面，紧固螺钉与主体不会因敲击而造成损坏，使的定位件与主体的连接稳固且结实耐用。

技术领域

本发明属于电路板检测技术领域，具体涉及一种探针针套打套工具。

背景技术

在电路板检测行业，测试探针(也叫弹簧探针)与测试探针针套是常用物资，用于连接电路板与测试设备，标准测试探针根据行程，有两种规格，我们称呼为高针(长工作行程9.3mm)与低针(标准工作行程4.3mm)，测试探针针套为统一规格，适用于高针与低针；常规的电路板检测手段为ICT(电路)测试、FCT(功能)测试，对应载体称为ICT治具、FCT治具，目前行业内已有成熟的IFCT测试，将ICT与FCT两个板块整合在一起，在一个测试治具上实现两种测试，以达到减少测试岗位，提高测试效率的目的。

相对于ICT或FCT治具，IFCT治具结构更复杂，因为ICT为弱电测试，FCT为强电测试，两种测试手段在一个治具上实现，必须分段测试，先测试ICT,再测试FCT；由此IFCT治具需测试探针需要不同的安装高度，ICT测试为一个高度，FCT测试为一个高度，采用测试探针的高度差来实现分段测试；目前行业内通过两种方法共同使用，来实现测试探针高低差。1、采用高、低测试探针(行程不一致的测试探针)，2、探针针套安装高度(留在针床表面的高度不一致)。

测试针床会预留探针针套孔洞，孔洞孔径与针套直径配合紧密，需要用敲的方式将探针针套打入针床孔洞，敲探针针套需使用到一种工具——打套器。此工具市面上无标准件，根据其结构，大致分为两种类型，一种是固定式打套器，高度不可调节，使用时无法准确控制探针针套高度；另一种是可调式打套器，此打套器高度可调节，通过旋转定位件调节高度，然后拧紧紧固螺钉，通过挤压主体螺纹使定位件与主体相对位置固定，由于其结构特性，紧固螺钉受力点在主体螺纹上，在实际使用过程中，需经常用力敲打打套器，主体螺纹很容易损坏，使得紧固螺钉无法长时间有效固定，容易松动，导致该打套器稳定性差，无法长期有效使用。

发明内容

针对上述现有技术中的不足，本发明的目的在于提供一种探针针套打套工具，可有效解决现有打套器无法准确、稳定地敲出不同高度要求的探针针套的问题。

本发明提供的一种探针针套打套工具，包括

一个主体，其用于固定单个定位件；以及

多个定位件，每个所述定位件均具有容纳探针针套伸入的第一空腔且每个第一空腔的深度不同；

所述主体与单个所述定位件形成可拆卸的连接。

优选地，所述定位件包括依次连接的固定部、连接部和定位部，所述固定部和定位部均为柱状结构，所述连接部为圆台状结构；所述连接部的两端分别与所述定位部以及所述固定部相连。

优选地，所述固定部开设有沿其轴向方向延伸的第二空腔以及沿固定部径向方向延伸的螺纹孔，所述螺纹孔与所述第二空腔相连通，所述定位件与所述主体通过设置在螺纹孔内的紧固螺钉形成可拆卸的连接。

优选地，所述螺纹孔以及所述紧固螺钉设置有多个，所述螺纹孔沿所述固定部的周向等间距设置。

优选地，所述第一空腔与所述第二空腔相连通，所述定位件、所述第一空腔以及所述第二空腔三者的轴线重合。

优选地，所述主体至少包括依次连接的第一柱、第二柱以及第三柱，所述第一柱、所述第二柱以及所述第三柱的直径依次减小。