[发明专利]TFT基板及其制备方法、显示装置有效
申请号: | 201910912284.4 | 申请日: | 2019-09-25 |
公开(公告)号: | CN110676266B | 公开(公告)日: | 2022-05-27 |
发明(设计)人: | 章仟益 | 申请(专利权)人: | TCL华星光电技术有限公司 |
主分类号: | H01L27/12 | 分类号: | H01L27/12;H01L21/82 |
代理公司: | 深圳翼盛智成知识产权事务所(普通合伙) 44300 | 代理人: | 汪阮磊 |
地址: | 518132 广东*** | 国省代码: | 广东;44 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | tft 及其 制备 方法 显示装置 | ||
1.一种TFT基板的制备方法,其特征在于,包括如下步骤:
在一衬底基板上沉积金属材料;
图形化所述金属材料以形成栅极;
在所述衬底基板上形成一栅极绝缘层,以覆盖图形化的栅极;
在所述栅极绝缘层上形成一有源层,且位于所述栅极的上方,所述有源层的材料包括氧化铟镓锌;在所述栅极绝缘层上形成一有源层的步骤中,采用N2和O2进行烘烤,烘烤的时间为60~150分钟,温度为200~400度;
在所述栅极绝缘层上依次层叠形成一第一金属层、一第二金属层和一第三金属层,其中所述第二金属层为镍或镍合金制成,所述第三金属层为铜材料制成,所述第一金属层和所述第二金属层作为刻蚀阻挡层,所述第三金属层作为金属膜层,在通过涂胶、曝光和刻蚀方式对第一金属层、第二金属层、第三金属层和有源层进行图形化处理的步骤中,采用铜酸对所述第一金属层、第三金属层进行刻蚀,采用通过H2O2系铜酸对所述第二金属层进行刻蚀;以及
通过涂胶、曝光和刻蚀方式对第一金属层、第二金属层、第三金属层和有源层进行图形化处理,以形成图形化的源极、漏极和有源层;在通过刻蚀方式对第一金属层进行图形化处理的步骤中,对位于源漏极间隔区中的部分第一金属层采用刻蚀气体进行干法刻蚀,所述刻蚀气体为NF3和O2的混合气体。
2.根据权利要求1所述的TFT基板的制备方法,其特征在于,在形成图形化的源极、漏极和有源层步骤之后,进一步包括:在图形化的源极、漏极、有源层和栅极绝缘层上形成一钝化层。
3.根据权利要求1所述的TFT基板的制备方法,其特征在于,在所述栅极绝缘层上依次层叠形成一第一金属层、一第二金属层和一第三金属层的步骤中,所述第二金属层和第一金属层的厚度之和为10~50纳米。
4.根据权利要求1所述的TFT基板的制备方法,其特征在于,在通过涂胶、曝光和刻蚀方式对第一金属层、第二金属层、第三金属层和有源层进行图形化处理的步骤中,采用草酸对所述有源层进行刻蚀。
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H01L 半导体器件;其他类目中不包括的电固体器件
H01L27-00 由在一个共用衬底内或其上形成的多个半导体或其他固态组件组成的器件
H01L27-01 .只包括有在一公共绝缘衬底上形成的无源薄膜或厚膜元件的器件
H01L27-02 .包括有专门适用于整流、振荡、放大或切换的半导体组件并且至少有一个电位跃变势垒或者表面势垒的;包括至少有一个跃变势垒或者表面势垒的无源集成电路单元的
H01L27-14 . 包括有对红外辐射、光、较短波长的电磁辐射或者微粒子辐射并且专门适用于把这样的辐射能转换为电能的,或适用于通过这样的辐射控制电能的半导体组件的
H01L27-15 .包括专门适用于光发射并且包括至少有一个电位跃变势垒或者表面势垒的半导体组件
H01L27-16 .包括含有或不含有不同材料结点的热电元件的;包括有热磁组件的