[发明专利]触摸检测装置及触摸检测方法有效
申请号: | 201910912546.7 | 申请日: | 2019-09-25 |
公开(公告)号: | CN112241217B | 公开(公告)日: | 2023-04-07 |
发明(设计)人: | 罗智烜;许嘉伸 | 申请(专利权)人: | 联阳半导体股份有限公司 |
主分类号: | G06F3/041 | 分类号: | G06F3/041;G06F3/044 |
代理公司: | 北京同立钧成知识产权代理有限公司 11205 | 代理人: | 罗英;臧建明 |
地址: | 中国台湾新竹科*** | 国省代码: | 暂无信息 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 触摸 检测 装置 方法 | ||
1.一种触摸检测装置,其特征在于,包括:
感测元件,用以产生至少一触摸感测值;以及
检测电路,耦接所述感测元件以接收所述至少一触摸感测值,且于第一阶段判断所述至少一触摸感测值的总和是否大于第一参考值以判断第一物件是否触摸所述感测元件,若所述第一物件触摸所述感测元件,则所述检测电路根据所述至少一触摸感测值计算第二参考值并进入第二阶段,
其中所述检测电路于所述第二阶段判断所述至少一触摸感测值的总和是否大于所述第二参考值判断第二物件是否触摸所述第一物件,
其中,在所述第一阶段之前的初始阶段,所述检测电路判断所述至少一触摸感测值的总和是否大于异常参考值,若所述至少一触摸感测值的总和大于所述异常参考值,则所述检测电路对所述至少一触摸感测值进行运算以取得第一基准值,并将所述第一基准值加上第一临界值以作为所述第一参考值,
其中,于所述第一阶段,若所述检测电路判断所述第一物件触摸所述感测元件,则所述检测电路对所述至少一触摸感测值进行运算以取得第二基准值,并将所述第二基准值加上第二临界值以作为所述第二参考值,其中所述第二临界值小于所述第一临界值。
2.根据权利要求1所述的触摸检测装置,其特征在于,于所述第一阶段,若所述至少一触摸感测值的总和大于所述第一参考值,所述检测电路判断所述第一物件触摸所述感测元件。
3.根据权利要求1所述的触摸检测装置,其特征在于:
于所述第二阶段判断,若所述至少一触摸感测值的总和大于所述第二参考值,所述检测电路判断所述第二物件触摸所述第一物件,且所述检测电路根据所述至少一触摸感测值计算第三参考值并进入第三阶段,
其中所述检测电路于所述第三阶段根据所述至少一触摸感测值及所述第三参考值判断第三物件是否触摸所述第一物件及所述第二物件至少其中之一。
4.根据权利要求3所述的触摸检测装置,其特征在于,于所述第二阶段,若所述检测电路判断所述第二物件触摸所述第一物件,则所述检测电路对所述至少一触摸感测值进行运算以取得第三基准值,且将所述第三基准值加上第三临界值以作为所述第三参考值,其中所述第三临界值小于所述第二临界值。
5.根据权利要求3所述的触摸检测装置,其特征在于,所述检测电路于所述第三阶段判断所述至少一触摸感测值的总和是否大于所述第三参考值,若所述至少一触摸感测值的总和大于所述第三参考值,所述检测电路判断所述第三物件触摸所述第一物件及所述第二物件至少其中之一。
6.根据权利要求3所述的触摸检测装置,其特征在于,所述检测电路于所述第三阶段判断所述至少一触摸感测值的总和是否小于所述第二参考值,若所述至少一触摸感测值的总和小于所述第二参考值,所述检测电路判断所述第二物件未再触摸所述第一物件,且所述检测电路根据所述至少一触摸感测值重新计算所述第二参考值并回到所述第二阶段。
7.根据权利要求3所述的触摸检测装置,其特征在于,所述检测电路判断所述至少一触摸感测值的总和是否小于所述异常参考值,若所述至少一触摸感测值的总和小于所述异常参考值,所述检测电路判断所述触摸检测装置为异常并回到所述初始阶段。
8.根据权利要求1所述的触摸检测装置,其特征在于,所述检测电路于所述第二阶段判断所述至少一触摸感测值的总和是否小于所述第一参考值,若所述至少一触摸感测值的总和小于所述第一参考值,所述检测电路判断所述第一物件未再触摸所述感测元件,且所述检测电路根据所述至少一触摸感测值重新计算所述第一参考值并回到所述第一阶段。
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