[发明专利]一种电磁阀电流曲线测试系统及方法在审

申请号：	201910912713.8	申请日：	2019-09-25
公开（公告）号：	CN110716096A	公开（公告）日：	2020-01-21
发明（设计）人：	孙新新	申请（专利权）人：	西安航天计量测试研究所
主分类号：	G01R31/00	分类号：	G01R31/00
代理公司：	61211 西安智邦专利商标代理有限公司	代理人：	汪海艳
地址：	710100 ***	国省代码：	陕西;61
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摘要：
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【权利要求书】：

1.一种电磁阀电流曲线测试系统，其特征在于：包括稳压电源、MOS管(14)、采样电阻R4、二极管、示波器(12)、信号发生器(11)及光耦器件(15)；

所述稳压电源的正极与MOS管(14)的源极连接，MOS管(14)的漏极与采样电阻R4之间用于串联待检电磁阀(13)；所述二极管并联在待检电磁阀(13)与采样电阻R4串联后的电路两端；所述示波器(12)并联在采样电阻R4的两端；所述采样电阻与稳压电源负极连接；

所述信号发生器(11)的输出端与光耦器件(15)的光耦输入发光二极管的阳极(1)与光耦输入发光二极管的阴极(2)连接；光耦器件(15)的光敏三极管的发射极(4)通过电阻R1与稳压电源的正极及MOS管(14)的源极连接；光耦器件(15)的光敏三极管的集电极(3)与MOS管(14)的栅极连接并通过电阻R2与MOS管(14)的漏极及二极管连接。

2.根据权利要求1所述的电磁阀电流曲线测试系统，其特征在于：还包括设置在信号发生器(11)的输出端与光耦输入发光二极管的阳极(1)之间的电阻R3。

3.根据权利要求2所述的电磁阀电流曲线测试系统，其特征在于：所述光耦器件(15)型号为TLP521。

4.根据权利要求3所述的电磁阀电流曲线测试系统，其特征在于：所述MOS管(14)型号为IRF540。

5.根据权利要求4所述的电磁阀电流曲线测试系统，其特征在于：所述二极管型号为BZG3D。

6.根据权利要求5所述的电磁阀电流曲线测试系统，其特征在于：所述采样电阻R4的阻值为5Ω。

7.一种基于权利要求1所述的电磁阀电流曲线测试系统的测试方法，其特征在于，包括以下步骤：

步骤一、初始化，设定信号发生器(11)的输出频率与幅值；

步骤二、控制信号发生器(11)输出高电平或低电平；

当信号发生器(11)输出高电平时，光耦器件(15)的光耦输入发光二极管导通，光耦内部发光，导致光敏三极管导通，通过电阻R1给MOS管(14)的栅极提供高电平，MOS管(14)源极与漏极导通，电磁阀吸合，示波器(12)采集采样电阻两端的电压，显示电压波形；

当信号发生器(11)输出低电平时，光耦器件(15)的光耦输入发光二极管不导通，在光耦内部不发光，光敏三极管截止，通过电阻R1给MOS管(14)的栅极提供低电平，MOS管(14)源极与漏极不导通，电磁阀释放，二极管、电磁阀及采样电阻形成闭合回路，示波器(12)采集采样电阻两端的电压，显示电压波形。

8.根据权利要求7所述的电磁阀电流曲线测试系统的测试方法，其特征在于：通过Labview软件设定信号发生器(11)的输出频率与幅值及控制信号发生器(11)输出高电平或低电平。

9.根据权利要求8所述的电磁阀电流曲线测试系统的测试方法，其特征在于：信号发生器(11)输出5V、0.1Hz、50％占空比的方波信号。