[发明专利]头影测量描迹图生成方法及系统

权利要求书

1.一种头影测量描迹图生成方法，其特征在于，包括以下步骤：

获取待测的头影图片；

通过识别模型对所述头影图片进行识别以得到采样标志点；

根据所述采样标志点，通过预设方式得到辅助标志点，其中，所述预设方式包括模板法；

根据所述采样标志点和所述辅助标志点进行曲线拟合，得到所述头影测量描迹图。

2.根据权利要求1所述的头影测量描迹图生成方法，其特征在于，所述根据所述采样标志点，通过预设方式得到辅助标志点，包括：

当所述采样标志点为第一预设类型采样标志点时，确定所述第一预设类型采样标志点对应的轮廓模板，所述轮廓模板中包括多个预设标志点；

将所述第一预设类型采样标志点与所述多个预设标志点进行匹配，得到辅助标志点。

3.根据权利要求2所述的头影测量描迹图生成方法，其特征在于，所述预设方式还包括经验插值法，所述根据所述采样标志点，通过预设方式得到辅助标志点，还包括：

当所述采样标志点为第二预设类型采样标志点时，通过经验插值法得到辅助标志点。

4.根据权利要求1-3任一项所述的头影测量描迹图生成方法，其特征在于，在根据所述采样标志点和所述辅助标志点进行曲线拟合，得到所述头影测量描迹图之后，所述方法还包括：

对所述头影测量描迹图中的任意一个或多个标志点进行移动，根据移动后的标志点进行曲线拟合，得到新的头影测量描迹图。

5.根据权利要求1所述的头影测量描迹图生成方法，其特征在于，所述采样标志点包括用于根据预设算法生成测量项目的测量标志点；

所述预设算法包括以下至少一种：北医分析法、Tweed三角分析法、Wylie分析法、Downs分析法、Steiner分析法、Ricketts分析法、Coben分析法、Wits分析法、Riedel分析法、分析法。

6.根据权利要求1所述的头影测量描迹图生成方法，其特征在于，所述识别模型通过以下步骤训练得到：

获取头影样本图片，所述头影样本图片人工标记有人工采样标志点的位置和标识；

利用获取的头影样本图片对预设的训练网络进行训练，以得到识别模型。

7.根据权利要求2所述的头影测量描迹图生成方法，其特征在于，所述第一预设类型采样标志点包括：眶缘点、耳点、上第一恒磨牙咬合中点、下第一恒磨牙咬合中点、上中切牙牙尖点和牙根点，以及下中切牙牙尖点和牙根点；

所述眶缘点对应眶缘轮廓模板，所述耳点对应耳道轮廓模板，所述上第一恒磨牙咬合中点对应上第一恒磨牙轮廓模板，所述下第一恒磨牙咬合中点对应下第一恒磨牙轮廓模板，所述上中切牙牙尖点和牙根点对应上中切牙轮廓模板，所述下中切牙牙尖点和牙根点对应下中切牙轮廓模板。

8.一种头影测量描迹图生成系统，其特征在于，包括：

获取模块，用于获取待测的头影图片；

识别模块，用于通过识别模型对所述头影图片进行识别以得到采样标志点；

辅助模块，用于根据所述采样标志点，通过预设方式得到辅助标志点，其中，所述预设方式包括模板法；

生成模块，用于根据所述采样标志点和所述辅助标志点进行曲线拟合，得到所述头影测量描迹图。

9.根据权利要求8所述的头影测量描迹图生成系统，其特征在于，所述辅助模块，用于：

当所述采样标志点为第一预设类型采样标志点时，确定所述第一预设类型采样标志点对应的轮廓模板，所述轮廓模板中包括多个预设标志点；

将所述第一预设类型采样标志点与所述多个预设标志点进行匹配，得到辅助标志点。

10.根据权利要求9所述的头影测量描迹图生成系统，其特征在于，所述预设方式还包括经验插值法，所述辅助模块，还用于：

当所述采样标志点为第二预设类型采样标志点时，通过经验插值法得到辅助标志点。