[发明专利]根据不良率调整测试策略的方法、装置、设备及存储介质

说明书

本申请公开了一种根据不良率调整测试策略的方法、装置、设备及存储介质。该方法包括：获取目标测试项目的测试数据；根据所述测试数据统计所述目标测试项目的不良率；将统计出的不良率与第一预设阈值进行比较，得出比较结果；根据比较结果调整所述目标测试项目的测试策略。本申请能够根据获得产品的不良率动态自动调整测试策略，操作非常简单，而且可以极大地提升产线测试效率。

技术领域

本申请涉及产品生产测试技术领域，特别是涉及一种根据不良率调整测试策略的方法、装置、设备及存储介质。

背景技术

很多产品例如手机在生产测试过程中，需要测试非常多的内容，某一测试工位将需要测试的内容和项目配置在配置文件中，除非人为手动更改，否则该工位的测试模式一直保持不变；

即使某一测试项不良率极低，低到该项就算是不测，同样满足品质要求。但是现有技术不能自动识别出该项是否可以取消。那么该测试项一直进行测试，如此一来时间耗费在这样的测试项上，品质过剩，测试效率低下。如果需要调整、删除该目标测试项目，则需要人工统计数据进行判断，并且手动修改测试项，非常复杂而且效率低下。

发明内容

本申请主要解决的技术问题是提供一种根据不良率调整测试策略的方法、装置、设备及存储介质，根据获得产品的不良率动态自动调整测试策略，操作简单，有利于提高产线测试效率。

为了解决上述问题，本申请第一方面提供了一种根据不良率调整测试策略的方法，包括：

获取目标测试项目的测试数据；

根据所述测试数据统计所述目标测试项目的不良率；

将所述不良率与第一预设阈值进行比较，得出比较结果；

根据比较结果调整所述目标测试项目的测试策略。

为了解决上述问题，本申请第二方面提供了一种根据不良率调整测试策略的装置，包括：获取模块，用于获取目标测试项目的测试数据；

不良率统计模块，用于根据所述测试数据统计所述目标测试项目的不良率；

比较模块，用于将所述不良率与第一预设阈值进行比较，得出比较结果；

调整模块，用于根据比较结果调整所述目标测试项目的测试策略。

为了解决上述问题，本申请第三方面提供了一种根据不良率调整测试策略的设备，包括相互耦接的存储器和处理器；处理器用于执行存储器存储的程序指令，以实现上述第一方面的根据不良率调整测试策略的方法。

为了解决上述问题，本申请第四方面提供了一种存储介质，存储有能够被处理器运行的程序指令，程序指令用于实现上述第一方面的根据不良率调整测试策略的方法。

上述方案，通过获取目标测试项目的测试数据；根据所述测试数据统计所述目标测试项目的不良率；将所述不良率与第一预设阈值进行比较，得出比较结果；根据比较结果调整所述目标测试项目的测试策略。这样可以根据获得的不良率动态调整该目标测试项目的测试策略，可以大大提升产线测试效率。

附图说明

图1是本申请根据不良率调整测试策略的方法一实施例的流程示意图；

图2是本申请根据不良率调整测试策略的方法另一实施例的流程示意图；

图3是本申请根据不良率调整测试策略的方法另一实施例的流程示意图；

图4是本申请根据不良率调整测试策略的方法另一实施例的流程示意图；

图5是图1实施例的S150的另一流程示意图；

图6是图1实施例的S150的另一流程示意图；