[发明专利]参数校验方法、装置和服务器有效

专利信息
申请号: 201910922659.5 申请日: 2019-09-26
公开(公告)号: CN110659019B 公开(公告)日: 2023-07-25
发明(设计)人: 李瑞 申请(专利权)人: 北京金山云网络技术有限公司;北京金山云科技有限公司
主分类号: G06F8/20 分类号: G06F8/20
代理公司: 北京超凡宏宇专利代理事务所(特殊普通合伙) 11463 代理人: 徐彦圣
地址: 100000 北京*** 国省代码: 北京;11
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摘要:
搜索关键词: 参数 校验 方法 装置 服务器
【权利要求书】:

1.一种参数校验方法,其特征在于,所述方法包括:

获取参数校验请求;所述参数校验请求中包括多个参数,所述多个参数之间具有级别关系,所述级别关系至少包括父子关系,具有父子关系的参数中父级参数包括子级参数;

按照如下方法对所述多个参数从父级向子级依次进行校验,直至所述多个参数校验完毕:

从预设的函数库中获取与当前待校验参数对应的校验函数;其中,所述校验函数用于校验所述当前待校验参数,或者还用于对所述当前待校验参数中包括的子级参数进行交叉校验;所述函数库中存储有参数对应的校验函数,参数的校验逻辑,以及参数之间的级别关系;其中,易冲突或易混淆的参数对应的校验代码写入其父级参数对应的校验函数中;

执行获取到的所述校验函数,得到校验结果;

所述方法还包括:

如果所述参数校验请求的多个参数中包含多个最高父级参数,且多个所述最高父级参数需要交叉校验,根据所述参数校验请求的URL地址,对多个所述最高父级参数进行交叉校验;所述URL地址的校验函数中存储需要交叉校验的多个最高父级参数的校验代码。

2.根据权利要求1所述的方法,其特征在于,从预设的函数库中获取与当前待校验参数对应的校验函数的步骤,包括:

如果当前待校验参数的参数值为空,跳过所述当前待校验参数,将所述当前待校验参数的下一个参数作为新的当前待校验参数,执行从预设的函数库中获取与当前待校验参数对应的校验函数的步骤。

3.根据权利要求1所述的方法,其特征在于,从预设的函数库中获取与当前待校验参数对应的校验函数的步骤,包括:

采用反射机制,从预设的函数库中获取指定函数名的校验函数;所述指定函数名包括预设前缀和所述当前待校验参数的关键字。

4.一种参数校验装置,其特征在于,所述装置包括:

参数获取模块,用于获取参数校验请求;所述参数校验请求中包括多个参数,所述多个参数之间具有级别关系,所述级别关系至少包括父子关系,具有父子关系的参数中父级参数包括子级参数;

校验模块,用于按照如下方法对所述多个参数从父级向子级依次进行校验,直至所述多个参数校验完毕:从预设的函数库中获取与当前待校验参数对应的校验函数;其中,所述校验函数用于校验所述当前待校验参数,或者还用于对当待校验参数中包括的子级参数进行交叉校验;执行获取到的所述校验函数,得到校验结果;所述函数库中存储有参数对应的校验函数,参数的校验逻辑,以及参数之间的级别关系;其中,易冲突或易混淆的参数对应的校验代码写入其父级参数对应的校验函数中;

所述校验模块,还用于:

如果所述参数校验请求的多个参数中包含多个最高父级参数,且多个所述最高父级参数需要交叉校验,根据所述参数校验请求的URL地址,对多个所述最高父级参数进行交叉校验;所述URL地址的校验函数中存储需要交叉校验的多个最高父级参数的校验代码。

5.根据权利要求4所述的装置,其特征在于,所述校验模块,还用于:

如果当前待校验参数的参数值为空,跳过所述当前待校验参数,将所述当前待校验参数的下一个参数作为新的当前待校验参数,执行从预设的函数库中获取与当前待校验参数对应的校验函数的步骤。

6.根据权利要求4所述的装置,其特征在于,所述校验模块,还用于:

采用反射机制,从预设的函数库中获取指定函数名的校验函数;所述指定函数名包括预设前缀和所述当前待校验参数的关键字。

7.一种服务器,其特征在于,包括处理器和存储器,所述存储器存储有能够被所述处理器执行的机器可执行指令,所述处理器执行所述机器可执行指令以实现权利要求1至3任一项所述的参数校验方法。

8.一种机器可读存储介质,其特征在于,所述机器可读存储介质存储有机器可执行指令,所述机器可执行指令在被处理器调用和执行时,所述机器可执行指令促使处理器实现权利要求1至3任一项所述的参数校验方法。

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