[发明专利]一种绝缘子串自爆的检测方法、装置、设备及存储介质

权利要求书

1.一种绝缘子串自爆的检测方法，其特征在于，包括步骤：

获取待检测缘子串的待检测图像，所述待检测图像包括待检测绝缘子串特征；

根据预先设置的模板图像，匹配所述待检测图像中的待检测特征区域，其中，所述模板图像包括模板特征区域，所述模板特征区域包括模板绝缘子串特征；

计算所述待检测特征区域与所述将所述模板特征区域的基础矩阵；

基于基础矩阵将所述模板绝缘子串特征投影到所述待检测图像中，计算投影的模板绝缘子串特征与所述待检测绝缘子串特征的差值；

根据所述差值，判断所述待检测绝缘子串是否出现自爆。

2.根据权利要求1所述的绝缘子串自爆的检测方法，其特征在于，所述根据预先设置的模板图像，匹配所述待检测图像中的待检测特征区域的步骤具体包括：

根据所述模板特征区域的大小，确定检测窗口的大小；

移动所述检测窗口，并实时计算所述检测窗口与所述模板特征区域的像素相似度；

根据所述像素相似度，确定所述待检测特征区域。

3.根据权利要求2所述的绝缘子串自爆的检测方法，其特征在于，所述根据所述像素相似度，确定所述待检测特征区域的步骤具体包括：

将所述像素相似度与预设的相似度阈值进行比较，若相似度大于所述相似度阈值则记录所述检测窗口的位置；

选取相似度最大的检测窗口位置，并基于所述相似度最大的检测窗口位置确定所述待检测特征区域。

4.根据权利要求1所述的绝缘子串自爆的检测方法，其特征在于，所述模板图像的设置步骤包括：

获取符合模板条件的绝缘子串图像；

设置所述绝缘子串图像的模板特征区域；

在所述绝缘子串图像的模板特征区域，获取模板绝缘子串特征。

5.根据权利要求1所述的绝缘子串自爆的检测方法，其特征在于，所述模板绝缘子串特征包括：第一模板绝缘子串特征和第二模板绝缘子串特征，所述待检测绝缘子串特征包括：第一待检测绝缘子串特征和第二待检测绝缘子串特征，所述基于基础矩阵将所述模板绝缘子串特征投影到所述待检测图像中，计算投影的模板绝缘子串特征与所述待检测绝缘子串特征的差值包括：

通过基础矩阵将所述第一模板绝缘子串特征和第二模板绝缘子串特征投影到所述待检测图像中，对应得到待检测图像的第一检测特征以及第二检测特征；

计算所述第一待检测绝缘子串特征与第一检测特征的差值；

计算所述第二待检测绝缘子串特征与第二检测特征的差值。

6.根据权利要求5所述的一种绝缘子串自爆的检测方法，其特征在于，根据所述差值，判断所述待检测绝缘子串是否出现自爆的步骤包括：

将所述第一待检测绝缘子串特征与第二检测特征的差值与所述预先设定的阈值进行比较；

将所述第二待检测绝缘子串特征与第二检测特征的差值与所述预先设定的阈值进行比较；

对于差值超过阈值的部位，如果宽度超过设定的宽度预置，则判定该段绝缘子缺失，判定该处出现自爆。

7.一种绝缘子串自爆的检测装置，其特征在于，所述装置包括：

图像获取模块，用于获取待检测绝缘子串的待检测图像，所述待检测图像包括待检测绝缘子串特征；

图像匹配模块，用于根据预先设置的模板图像，匹配所述待检测图像中的待检测特征区域，其中，所述模板图像包括模板特征区域，所述模板特征区域包括模板绝缘子串特征；

第一计算模块，用于计算所述待检测特征区域与所述模板特征区域的基础矩阵；

第二计算模块，基于基础矩阵将所述模板绝缘子串特征投影到所述待检测图像中，计算投影的模板绝缘子串特征与所述待检测绝缘子串特征的差值；

判断模块，用于根据所述差值，判断所述待检测绝缘子串是否出现自爆。