[发明专利]一种测定土壤环境中微米级塑料的方法在审
申请号: | 201910928217.1 | 申请日: | 2019-09-28 |
公开(公告)号: | CN110530819A | 公开(公告)日: | 2019-12-03 |
发明(设计)人: | 尹华;柴炳文 | 申请(专利权)人: | 华南理工大学 |
主分类号: | G01N21/3563 | 分类号: | G01N21/3563;G01N15/02;G01N15/10 |
代理公司: | 44102 广州粤高专利商标代理有限公司 | 代理人: | 何淑珍;冯振宁<国际申请>=<国际公布> |
地址: | 510640 广*** | 国省代码: | 广东;44 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 颗粒物 微米级 载玻片 土壤环境 光谱 拼接 显微红外光谱 傅里叶变换 塑料 背景位置 工具选择 计算分析 可视窗口 空白区域 塑料检测 塑料污染 土壤样品 样品过滤 样品区域 移动操作 单光束 前处理 放入 载物 镀金 捕获 鉴别 聚焦 采集 参考 | ||
1.一种测定土壤环境中微米级塑料的方法,其特征在于,包括以下步骤:
(1)将含有微米级塑料的污染土过滤后,得到土壤样品,将所述土壤样品均匀的分散到镀金载玻片上;
(2)将步骤(1)所述镀金载玻片放入载物台中,操纵Nicolet iN10 MX傅里叶变换显微红外光谱仪配制的操作杆,将载物台中的土壤样品移动至物镜的观察区域;
(3)将所述Nicolet iN10 MX傅里叶变换显微红外光谱仪的OMNIC Picta软件打开,通过样品可视窗口所显示的土壤样品区域进行调整照明和聚焦,使土壤样品能清晰观察;
(4)在所述OMNIC Picta软件中,点击面工具,选择土壤样品区域,捕获拼接土壤颗粒物的所在区域,得到样品拼接图;
(5)采用所述OMNIC Picta软件的向导功能,对步骤(4)所述样品拼接图内的土壤样品进行颗粒物测试分析,得到土壤样品中每个颗粒物的粒径大小;采集每个颗粒物的单光束谱图,进行显微红外测试;
(6)在所述镀金载玻片的空白区域选择一个背景位置,进行背景测试,经过傅里叶变换计算,得到结果光谱;
(7)将步骤(6)所述结果光谱与标准谱库对比,分析所述土壤样品中的颗粒物性质,得到微塑料检测报告;所述微塑料检测报告的信息包括微米级塑料的分类、分布、数量、匹配度、粒径大小及所占面积。
2.根据权利要求1所述的测定土壤环境中微米级塑料的方法,其特征在于,步骤(1)所述含有微米级塑料的污染土中的微米级塑料的粒径大小为10-1000μm。
3.根据权利要求1所述的测定土壤环境中微米级塑料的方法,其特征在于,步骤(1)中,过滤使用的过滤膜孔径为0.22至0.45um。
4.根据权利要求1所述的测定土壤环境中微米级塑料的方法,其特征在于,步骤(1)所述镀金载玻片为装有镜子或低辐射镀膜玻璃载玻片。
5.根据权利要求1所述的测定土壤环境中微米级塑料的方法,其特征在于,步骤(2)所述物镜的放大倍数为40-150倍。
6.根据权利要求1所述的测定土壤环境中微米级塑料的方法,其特征在于,步骤(3)所述照明为上部照明、光圈照明和下部照明。
7.根据权利要求1所述的测定土壤环境中微米级塑料的方法,其特征在于,步骤(4)所述样品拼接图的面积为50um×50um至15000um×15000um。
8.根据权利要求1所述的测定土壤环境中微米级塑料的方法,其特征在于,步骤(5)所述向导功能为Wizards向导功能。
9.根据权利要求1所述的测定土壤环境中微米级塑料的方法,其特征在于,步骤(5)所述显微红外测试为反射模式;采集每个颗粒物的单光束谱图的扫描次数为16-64次,每次采集每个颗粒物的单光束谱图的时间为3至5秒。
10.根据权利要求1所述的测定土壤环境中微米级塑料的方法,其特征在于,步骤(6)所述背景测试的采集背景的间隔时间为100至200分钟;所述空白区域为镀金载玻片上没有被土壤样品覆盖的区域。
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