[发明专利]显示屏及提高显示屏亮度均一性的方法

说明书

本发明提供一种显示屏及提高显示屏亮度均一性的方法，本发明提供的显示屏包括驱动基板、处理器、第一侦测线、第二侦测线和多个像素单元，第一侦测线和第二侦测线设置在驱动基板上，第一侦测线与第二侦测线的长度相等且平行，本发明通过处理器获得显示屏未点亮时第一侦测线的输出电压、输出电流、第二侦测线的输出电压；显示屏点亮后第一侦测线的输出电压、输出电流、第二侦测线的输出电压、输出电流以及驱动芯片的输出电压，计算得出显示屏上像素单元的电压补偿值，本发明实施例提供的显示屏能够快速得出数据电压补偿值并对像素单元进行电压进行补偿，本发明提供的显示屏在提高亮度均一性时简便且效率高。

技术领域

本发明涉及显示技术领域，尤其涉及一种显示屏及提高显示屏亮度均一性的方法。

背景技术

在显示领域中，AMOLED具有自发光、响应快、省电等优点，得到了越来越广泛的应用。随着AMOLED显示屏尺寸和分辨率的不断提升，相应地，屏体电源线的长度也不断增大。当AMOLED发光时，由于屏体电源线存在一定电阻，其长度越长则电阻越大，因此靠近电源供电位置区域的电压高于远离供电区域的电压，这种现象被称为压降IR-Drop，IR Drop会造成不同区域的电流差异，进而导致屏体亮度不均匀的问题。

现有技术中通常是将显示屏分为多个区块，通过光学仪器CA310测量每个区块的亮度，通过算法运算调整各区块所对应的显示电压，从而通过调节电压以使各区块亮度达到一致，这种解决压降IR Drop以提高亮度均一性的方法操作繁琐且效率低。

发明内容

本发明实施例提供一种显示屏及提高显示屏亮度均一性的方法，用以解决现有技术中提高显示屏亮度均一性效率低且操作繁琐的问题。

为了实现上述目的，本发明实施例提供如下技术方案：

一方面，本发明实施例提供了一种显示屏，包括：驱动基板、处理器、第一侦测线、第二侦测线和阵列分布在所述驱动基板上的多个像素单元，其中，所述第一侦测线和第二侦测线设置在所述驱动基板上，所述第一侦测线与所述第二侦测线的长度相等且平行；所述驱动基板上设置有驱动芯片，所述第一侦测线的第一端和所述第二侦测线的第一端分别与所述驱动芯片连接，所述第一侦测线的第二端和所述第二侦测线的第二端连接并与所述驱动基板的电源连接；所述处理器分别与所述第一侦测线、所述第二侦测线以及所述驱动芯片连接，所述处理器根据显示屏未点亮时所述第一侦测线的第一端的电压和电流、所述第二侦测线的第一端的电压以及显示屏点亮后所述第一侦测线的第一端的电压和电流、所述第二侦测线的第一端的电压和电流、所述驱动芯片的电压，获得像素单元的电压补偿值。

与现有技术相比，本发明实施例提供的提高显示屏亮度均一性的方法具有如下优点：

本发明实施例提供的显示屏设置有第一侦测线、第二侦测线和处理器，通过处理器获得显示屏未点亮时第一侦测线的输出电压、输出电流、第二侦测线的输出电压；显示屏点亮后第一侦测线的输出电压、输出电流、第二侦测线的输出电压、输出电流以及驱动芯片的输出电压，计算得出显示屏上像素单元的电压补偿值，本发明实施例提供的显示屏能够快速得出数据电压补偿值，本发明提供的显示屏在提高亮度均一性时简便且效率高。

作为本发明实施例显示屏的一种改进，所述处理器包括处理芯片以及与所述处理芯片连接的电压测量装置和电流测量装置，所述电压测量装置用于测量所述第一侦测线的第一端的电压、所述第二侦测线的第一端的电压和所述驱动芯片的电压；电流测量装置用于测量显示屏未点亮时所述第一侦测线的电流、显示屏点亮后所述第一侦测线的电流和所述第二侦测线的第一端的电流。

作为本发明实施例显示屏的一种改进，所述第一侦测线和所述第二侦测线为透明导电材料制成。

作为本发明实施例显示屏的一种改进，所述驱动芯片上设置有第一管脚、第二管脚和第三管脚，所述第一侦测线与所述第一管脚相连接，所述第二侦测线与所述第二管脚相连接，所述处理器分别与所述第一管脚、所述第二管脚、所述第三管脚相连接。