[发明专利]一种能够融合于探测系统中的调试系统及方法

权利要求书

1.一种能够融合于磁探测系统中的调试系统，其特征在于，所述能够融合于磁探测系统中的调试系统包括：

在板式磁模块调试系统，与磁探测系统连接，用于产生磁调试信号，并将产生的磁调试信号传输磁探测系统；

磁探测系统，接收在板式磁模块调试系统产生的磁调试信号并进行评判，根据评判的结果对磁探测系统功能是否完整进行进一步判断，最后将结果传输显示系统；

显示系统，用于对在板式磁模块调试系统的调试结果通过一定的方式进行展示；

所述能够融合于磁探测系统中的调试系统的能够融合于磁探测系统中的调试方法，包括：

由磁探测系统本身的中央控制模块产生相应的磁调试控制信号，由在板式磁模块调试系统的信号生成单元根据控制信号产生相应的磁调试信号，通过磁探测系统的磁信号采集模块对该磁调试信号进行采集；

然后，对采集的信号进行评判，并根据评判的结果对磁模块功能是否完整进行进一步判断；

最后将结果通过显示系统进行显示。

2.如权利要求1所述的能够融合于磁探测系统中的调试系统，其特征在于，所述磁探测系统包括：

中央控制模块，用于产生相应的磁调试控制信号；

磁信号采集模块，对磁调试信号进行采集；

调试控制单元，电源通过R1和R2串联至磁探测系统中央控制模块的一个I/O口上，在I/O口端并联一个电容C1，在R1和R2之间并联一个点触开关S1，电阻R1阻值为470欧姆，R2阻值为1K欧姆，电容C1值为4.7pF；系统上电时，C1充电，I/O为高电平，当按下点触开关S1后，C1通过R2放电，放电时间常数由τ＝RC计算；当点触开关按住τ时间时，I/O电压由开始的VCC降至0.368倍Vcc，中央控制模块扫描的I/O口的电压变化，当检测到I/O由高电平变为低电平，在下降沿时，开启调试模式，由中央控制模块发出相应的波形调试控制信号。

3.如权利要求1所述的能够融合于磁探测系统中的调试系统，其特征在于，所述磁探测系统进一步包括：

供电模块，与中央控制模块、磁信号采集模块连接，用于提供电源；

储存模块，与中央控制模块连接，用于储存磁信号；

外部通讯、调试接口，与中央控制模块连接，用于与外部设备进行通讯。

4.如权利要求2所述的能够融合于磁探测系统中的调试系统，其特征在于，磁信号采集模块包括：

磁信号采集驱动芯片，与中央控制模块连接，用于对磁调试信号进行采集。

5.如权利要求1所述的能够融合于磁探测系统中的调试系统，其特征在于，在板式磁模块调试系统包括：

信号生成单元，接收调试控制单元输出的波形，然后生成相应的磁信号；通过信号生成单元电路利用三个线圈产生相应的信号，当信号线圈中通过一定的电流波形时，产生相应的变化磁场；

所述信号生成单元由三个阻值相同的电阻和相同的线圈组成，每个电阻与线圈串联，三个串联电阻线圈并联。

6.如权利要求1所述的能够融合于磁探测系统中的调试系统，其特征在于，在板式磁模块调试系统进一步包括：

自检控制单元，用于控制磁探测系统产生相应的调试控制信号；

自检结果显示单元，用于显示自检控制单元检查磁信号的结果。

7.如权利要求1所述的能够融合于磁探测系统中的调试系统，其特征在于，

显示系统集成有显示电路，由一个发光二极管组成，通过中央控制模块控制电流进入发光二极管，使二极管展现不同的发光模式显示对应的不同调试结果；

所述显示电路由发光二极管D1和限流电阻R3串联组成。