[发明专利]一种短波射频直采桥式矢量阻抗检测方法有效
申请号: | 201910938560.4 | 申请日: | 2019-09-30 |
公开(公告)号: | CN110736879B | 公开(公告)日: | 2022-03-18 |
发明(设计)人: | 邹晶晶;罗磊 | 申请(专利权)人: | 中国电子科技集团公司第三十研究所 |
主分类号: | G01R27/04 | 分类号: | G01R27/04 |
代理公司: | 成都九鼎天元知识产权代理有限公司 51214 | 代理人: | 邓世燕 |
地址: | 610000 *** | 国省代码: | 四川;51 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 一种 短波 射频 直采桥式 矢量 阻抗 检测 方法 | ||
本发明公开了一种短波射频直采桥式矢量阻抗检测方法,包括如下步骤:步骤一、搭建桥式检测电路;步骤二、对耦合电压信号进行射频直接采样;步骤三、通过两路采样信号的幅度和相位信息,计算得到负载阻抗值。与现有技术相比,本发明的积极效果是:本发明针对变频处理构架下,短波矢量阻抗检测器电路复杂、体积大、功耗高、数据处理复杂度高等问题,对电路处理构架、数据处理算法两方面进行改进,提出了一种短波射频直采桥式矢量阻抗检测(以下简称“桥式检测”)方法。本发明与传统方法相比,具有更简洁的电路处理构架,降低处理电路复杂度、功耗、体积,同时优化了数据处理算法,并在一定程度上提高了检测精度。
技术领域
本发明涉及一种短波射频直采桥式矢量阻抗检测方法。
背景技术
矢量阻抗检测是矢量短波天线调谐器(以下简称“天调”)中的关键功能模块,是天调执行调谐算法的基础,直接决定了天调的调谐精度。高精度矢量阻抗检测技术可在短波全频段提供准确的负载阻抗检测,是实现快速、高精度天调调谐器的关键技术。短波频段内矢量阻抗检测技术通常存在两种电路处理构架:一是变频处理构架,二是射频直采量处理构架。
变频处理构架的工作原理如下:射频信号下变频后,通过ADC获取负载上的电压、电流矢量信号,基于矢量阻抗定义式
计算求得负载阻抗。该种方式直观,且阻抗幅角即是电压、电流信号的相位差。电压、电流矢量信号获取方式一般采用耦合器完成,变压器耦合射频电压信号,电流耦合器耦合通过负载的电流信号,为降低耦合器本身对负载阻抗的影响,一般耦合系数相对较小,耦合信号需通过放大后再进行后续下变频、滤波等处理得到中频信号,中频信号经放大、滤波处理后进行低频采样,在数字域中提取低频采样信号的幅度、相位信息,计算得到阻抗值,其处理构架如图1所示。
此种方法电路处理构架较为复杂,中频采样后进行数据处理计算负载阻抗,数据处理中提取电流、电压信号幅度、相位特性往往需进行希尔伯特变换,算法复杂度高。此外,由于工程实现中,耦合器存在固有频率特性,两路射频处理电路处理的不平衡性,对阻抗检测误差造成较大影响(误差在5%~10%)。此种检测方式中感性耦合器尺寸大、电路复杂、功耗高,在体积、功耗受限的设备中难以实现。
射频直采构架下,表征负载阻抗的电压、电流信号不经过下变频处理,直接进入高速ADC进行采样,在数字域进行数据处理得到负载阻抗。该种方式下,不存在下变频处理电路,电路复杂度降低,可实现低功耗、小体积设计。
发明内容
为了克服现有技术的上述缺点,本发明提供了一种短波射频直采桥式矢量阻抗检测方法。
本发明解决其技术问题所采用的技术方案是:一种短波射频直采桥式矢量阻抗检测方法,包括如下步骤:
步骤一、搭建桥式检测电路;
步骤二、对耦合电压信号进行射频直接采样;
步骤三、通过两路采样信号的幅度和相位信息,计算得到负载阻抗值。
与现有技术相比,本发明的积极效果是:
本发明针对变频处理构架下,短波矢量阻抗检测器电路复杂、体积大、功耗高、数据处理复杂度高等问题,对电路处理构架、数据处理算法两方面进行改进,提出了一种短波射频直采桥式矢量阻抗检测(以下简称“桥式检测”)方法。本发明与传统方法相比,具有更简洁的电路处理构架,降低处理电路复杂度、功耗、体积,同时优化了数据处理算法,并在一定程度上提高了检测精度,具体表现如下:
1)硬件电路实现上,基于射频直采电路构架,无感性耦合器、混频器、滤波器、放大器等部件,缩小检测电路模块体积、功耗,降低外围电路引入的检测误差;
2)采用短波频率特性较好的纯电阻网络代替电压、电流耦合器,降低耦合器频率特性造成的检测误差;
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