[发明专利]一种图像处理方法、装置、设备和计算机可读存储介质有效

专利信息
申请号: 201910940403.7 申请日: 2019-09-30
公开(公告)号: CN110706263B 公开(公告)日: 2023-06-06
发明(设计)人: 闵锋;吴涛;李晓林;张彦铎 申请(专利权)人: 武汉工程大学
主分类号: G06T7/30 分类号: G06T7/30
代理公司: 北京轻创知识产权代理有限公司 11212 代理人: 赵秀斌
地址: 430000 湖北省武*** 国省代码: 湖北;42
权利要求书: 查看更多 说明书: 查看更多
摘要:
搜索关键词: 一种 图像 处理 方法 装置 设备 计算机 可读 存储 介质
【权利要求书】:

1.一种图像处理方法,其特征在于,包括:

分别读取图像识别模型、窗口融合模型和源图像;

根据所述图像识别模型在所述源图像上标定相互重叠的至少两个交叠窗口;

根据所述窗口融合模型检验至少两个所述交叠窗口是否重复标定在所述源图像局部的像素块,若否,则免合并至少两个所述交叠窗口,若是,则将至少两个所述交叠窗口合并为一个融合窗口;

所述图像识别模型包括相似图像检测子模型、窗口扩展子模型和深度学习子模型;

根据所述图像识别模型在所述源图像上标定相互重叠的至少两个交叠窗口,具体包括:

根据所述相似图像检测子模型检验预设图像库中有无与所述源图像相似的参考图像,若有,则根据所述参考图像、所述窗口扩展子模型和所述深度学习子模型在所述源图像上标定至少两个所述交叠窗口,若无,则根据所述深度学习子模型在所述源图像上标定至少两个所述交叠窗口;

根据所述参考图像、所述窗口扩展子模型和所述深度学习子模型在所述源图像上标定至少两个所述交叠窗口,具体包括:

从所述参考图像上识别出参考窗信息;

根据所述参考窗信息在所述源图像上定位至少一个第一候选窗口;

根据所述窗口扩展子模型将至少一个所述第一候选窗口扩展为对应的第二候选窗口;

根据所述深度学习子模型在所述第二候选窗口内标定至少两个所述交叠窗口;

所述窗口扩展子模型包括边界扩张函数、最短路径检测函数和近距窗融合函数;

根据所述窗口扩展子模型将至少一个所述第一候选窗口扩展为对应的第二候选窗口,具体包括:

根据所述边界扩张函数对至少一个所述第一候选窗口在所述源图像上的边界进行扩张,得到至少一个扩张窗口;

当所述扩张窗口的个数为一个时,将一个所述扩张窗口确定为所述第二候选窗口;

当所述扩张窗口的个数为至少两个时,根据所述最短路径检测函数检验至少两个所述扩张窗口是否属于呈相近分布在所述源图像上的近距窗组,若否,则分别将各个所述扩张窗口确定为所述第二候选窗口,若是,则根据所述近距窗融合函数将所述近距窗组合并为所述第二候选窗口;

根据所述窗口融合模型检验至少两个所述交叠窗口是否重复标定在所述源图像局部的像素块,具体包括:从至少两个交叠窗口中分别获得一个第一窗口以及与第一窗口重叠的至少一个第二窗口;计量第一窗口与所有第二窗口之间的重叠度;检验重叠度是否超过预设重叠临界值,若否,则将第一窗口和各个第二窗口认证为分别独自标定像素块,若是,则将第一窗口和各个第二窗口认证为重复标定像素块。

2.根据权利要求1所述图像处理方法,其特征在于,任一个所述第一候选窗口在所述源图像上的边界呈平行四边形,根据所述边界扩张函数对至少一个所述第一候选窗口在所述源图像上的边界进行扩张,得到至少一个扩张窗口,具体包括:

根据所述边界扩张函数分别将至少一个所述边界沿着所述源图像的横向扩张第一像素距离,以及将对应的所述边界沿着所述源图像的纵向扩张第二像素距离,得到至少一个所述扩张窗口;

当所述扩张窗口的个数为至少两个时,根据所述最短路径检测函数检验至少两个所述扩张窗口是否属于呈相近分布在所述源图像上的近距窗组,具体包括:

分别获取在各个所述扩张窗口内的中心点;

根据所述最短路径检测函数检验任意相邻两个所述中心点沿着所述源图像的横向分布的第一距离是否超过所述第一像素距离,以及检验对应的相邻两个所述中心点沿着所述源图像的纵向分布的第二距离是否超过所述第二像素距离;

当所述第一距离不超过所述第一像素距离或/和所述第二距离不超过所述第二像素距离时,则将对应的相邻两个所述中心点各自所属的所述扩张窗口确定为近距窗对;

当所述第一距离超过所述第一像素距离且所述第二距离超过所述第二像素距离时,则将对应的相邻两个所述中心点各自所属的所述扩张窗口确定为远距窗对;

在至少两个所述扩张窗口中,若每相邻两个所述中心点各自所属的所述扩张窗口均被确定为所述近距窗对时,则验证至少两个所述扩张窗口属于呈相近分布在所述源图像上的所述近距窗组,否则验证至少两个所述扩张窗口不属于呈相近分布在所述源图像上的所述近距窗组。

下载完整专利技术内容需要扣除积分,VIP会员可以免费下载。

该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息,商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于武汉工程大学,未经武汉工程大学许可,擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作,请联系【客服

本文链接:http://www.vipzhuanli.com/pat/books/201910940403.7/1.html,转载请声明来源钻瓜专利网。

×

专利文献下载

说明:

1、专利原文基于中国国家知识产权局专利说明书;

2、支持发明专利 、实用新型专利、外观设计专利(升级中);

3、专利数据每周两次同步更新,支持Adobe PDF格式;

4、内容包括专利技术的结构示意图流程工艺图技术构造图

5、已全新升级为极速版,下载速度显著提升!欢迎使用!

请您登陆后,进行下载,点击【登陆】 【注册】

关于我们 寻求报道 投稿须知 广告合作 版权声明 网站地图 友情链接 企业标识 联系我们

钻瓜专利网在线咨询

周一至周五 9:00-18:00

咨询在线客服咨询在线客服
tel code back_top