[发明专利]一种对数正态型通用件的备件保障概率计算方法及装置有效
申请号: | 201910944871.1 | 申请日: | 2019-09-30 |
公开(公告)号: | CN110717266B | 公开(公告)日: | 2022-06-14 |
发明(设计)人: | 阮旻智;肖剑波;王俊龙;李华 | 申请(专利权)人: | 中国人民解放军海军工程大学 |
主分类号: | G06F30/20 | 分类号: | G06F30/20;G06F17/18 |
代理公司: | 武汉蓝宝石专利代理事务所(特殊普通合伙) 42242 | 代理人: | 王振宇 |
地址: | 430000 湖北*** | 国省代码: | 湖北;42 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 一种 对数 正态型 通用 备件 保障 概率 计算方法 装置 | ||
本发明涉及一种对数正态型通用件的备件保障概率计算方法及装置,属于装备备件保障技术领域。本发明首先利用各装备通用件的故障概率建立概率矩阵,然后依次选取列装通用件的装备作为当前装备,利用卷积运算依次计算其他装备中通用件故障之和的概率分布情况,最后根据所述的其他装备中通用件故障之和的概率分布情况计算当前装备的备件保障概率。本发明充分考虑到了通用件在不同装备中的故障概率,利用其他装备的故障概率计算当前装备的保障概率,统筹规划通用件的整体需求量,在满足备件资源的充分性的同时,减少资源浪费。
技术领域
本发明涉及装备备件保障技术领域,具体涉及一种对数正态型通用件的备件保障概率计算方法及装置。
背景技术
对数正态型通用件是在不同类型或同类型不同规格的装备中具有互换性的寿命分布服从对数正态分布的零部件单元,如:直升机旋转叶片、飞机结构、金属疲劳、电机绕组绝缘、半导体器件、硅晶体管、锗晶体管等。对数正态型通用件的寿命X服从对数正态分布记作X~Ln(μ,σ2),其中μ>0为对数均值参数,σ>0为对数根方差参数,X的密度函数为
通用件由于具有较高的通用性,因此在综合考虑所有装备(内含通用件)的总体需求后,对其备件资源常常采取集中贮存、统一供应的保障方式。在常规的备件保障方式中,是分别计算各装备的备件需求量,然后再进行汇总。如果在通用件的备件保障中采用常规方法,则因没有考虑到通用件的互换性而造成对备件的过度采购和储备,形成浪费。在对通用件的备件进行统筹规划的过程中,站在装备使用者的立场,需要回答一个关键问题:“统一供应保障时,如何评估各装备的备件保障效果?”目前,还没有较好的方法回答该问题。
发明内容
针对对数正态型通用件,当统一供应的备件数量为S时,本发明提供一种对数正态型通用件的备件保障概率计算方法及装置,用于计算内含该类型通用件各装备的备件保障概率,从而量化对各装备的保障效果,解决背景技术中所提到的问题。
本发明解决上述技术问题的技术方案如下:
第一方面,本发明提供一种对数正态型通用件的备件保障概率计算方法,包括以下步骤:
S1,建立并计算概率矩阵dyPs,矩阵中元素dyPs(i,j)表示第i号装备的通用件发生j-1次故障的概率,1≤i≤N,1≤j≤S+2,N为列装对数正态型通用件的装备台数,S为备件仓库中对数正态型通用件的备件数量;矩阵元素dyPs(i,j)取值如下:
式中,Γ()为伽玛函数,Ti为对数正态型通用件在第i号装备一个保障周期内的计划工作时间;
S2,令当前装备编号i=1;
S3,其余装备编号保存在数组i23中,初始化i23m=m+1,1≤m≤N-1;若i>1,则修正i23i-1=1;
S4,利用卷积运算依次计算其他装备中通用件故障之和的概率分布情况,并根据所述的其他装备中通用件故障之和的概率分布情况计算当前装备的备件保障概率dyPi;
S5,令i=i+1,若i≤N则跳转至步骤S3,否则终止计算dyPi即为各装备中该通用件的备件保障概率,1≤i≤N。
进一步的,所述的步骤S4包括:
S41,令j=1;
S42,令dp1=dyPs(i,j);
S43,若j=1,则令dyPi=dp1并跳转至步骤S46,否则跳转至步骤S44;
S44,计算其他装备通用件故障之和的概率分布情况,令m=1;
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