[发明专利]一种DDR闭门锁的测试夹具

说明书

本发明提供的一种DDR闭门锁的测试夹具，包括底座，所述底座包括第一模块、第二模块、第三模块，所述第一模块上端设有沿x轴方向的导槽，所述导槽靠向所述第二模块一端连接有贯穿所述第一模块底部的测试孔，所述第一导槽上滑动连接有压块，所述压块靠向所述测试孔一端连接有压板，所述第二模块靠向所述第一模块一端开设有让位槽，所述让位槽位于所述测试孔一侧，所述让位槽两侧还设有沿y轴方向的转动避让槽，所述第三模块上设有沿y轴方向的滑槽，所述滑槽内滑动连接有夹爪，所述夹爪下端开设有V型槽。本发明的测试夹具，能够对DDR连接器的闭门锁进行压力测试，结构简单，测试效率高。

技术领域

本发明涉及连接器技术领域，具体涉及一种DDR闭门锁的测试夹具。

背景技术

DDRDouble Data Rate，双倍速率同步动态随机存储器，严格的说DDR应该叫DDRSDRAM，人们习惯称为DDR内存。DDR连接器是一种连接内存条及电路板的连接器，对应此类存储类产品，内存条与DDR连接器的接触性能、以及DDR连接器与电路板的焊接性能，对设备的质量具有较大的影响。如图1-2所述，闭门锁6是DDR连接器5内用于固定内存卡的零部件，闭门锁6包括头部61、主体62、尾部63、转动部64，通常需要对主体62和尾部63进行压力测试，现有技术的测试方法中，需要使用两个测试工具对两个位置分别进行测试，测试效率低。

发明内容

针对以上问题，本发明提供一种DDR闭门锁的测试夹具，能够对DDR连接器的闭门锁进行压力测试，结构简单，测试效率高。

为实现上述目的，本发明通过以下技术方案来解决：

一种DDR闭门锁的测试夹具，包括底座，所述底座包括第一模块、连接在所述第一模块一端的第二模块、以及连接在所述第二模块一端的第三模块，所述第三模块的高度大于所述第二模块的高度，所述第二模块的高度大于所述第一模块的高度，所述第一模块上端设有沿x轴方向的导槽，所述导槽靠向所述第二模块一端连接有贯穿所述第一模块底部的测试孔，所述第一导槽上滑动连接有压块，所述压块靠向所述测试孔一端连接有压板，所述第二模块靠向所述第一模块一端开设有让位槽，所述让位槽位于所述测试孔一侧，所述让位槽两侧还设有沿y轴方向的转动避让槽，所述第三模块上设有沿y轴方向的滑槽，所述滑槽内滑动连接有夹爪，所述夹爪下端开设有V型槽。

具体的，所述滑槽中部下端还连接有沿z轴方向的锁紧孔，所述锁紧孔上连接有锁紧件。

具体的，所述锁紧孔为螺孔，所述锁紧件为机米螺丝。

具体的，所述夹爪底部还开设有供所述锁紧件嵌入的限位槽。

具体的，所述第一模块上还设有两个沿x轴方向的限制槽，两个所述限制槽分别位于所述导槽两侧，所述压块下端连接有两个与所述限制槽相匹配的限制滑块。

具体的，所述限制槽为L型结构。

本发明的有益效果是：

本发明的DDR闭门锁的测试夹具，能够对DDR连接器的闭门锁进行不同位置的压力测试，结构简单，测试效率高。

附图说明

图1为DDR连接器的结构示意图。

图2为闭门锁的结构示意图。

图3为本发明的一种DDR闭门锁的测试夹具的立体结构图。

图4为本发明中底座的结构示意图。

图5为本发明中压块的结构示意图。

图6为本发明中夹爪的结构示意图。

图7为本发明的一种DDR闭门锁的测试夹具的主视图。

图8为图7中A-A面的剖面图。