[发明专利]预录存储装置及线上测试系统

说明书

本发明提供一种预录存储装置及线上测试系统。预录存储装置包括存储装置以及处理器。处理器耦接存储装置，经配置以根据电脑运转效率决定是否启动预录存储装置的预录功能。当电脑运转效率低于效率阈值时，处理器用以检测预录存储装置的存储装置是否具有测试信息。若具有测试信息，则处理器指示测试装置根据存储于预录存储装置的存储装置的测试信息执行测试动作。若不具有测试信息，则处理器启动所述预录存储装置的预录功能，以接收测试信息并将测试信息存储至存储装置。本发明提供的预录存储装置及线上测试系统，可将测试信息预录在测试板上，并根据电脑运转效率判断是否要启动测试板测试触控模块。

技术领域

本发明涉及一种测试系统，尤其涉及一种预录存储装置及线上测试系统。

背景技术

随着科技日新月异，触控模块逐渐取代了实体按键而成为电子产品中不可或缺的角色。为了获得良好质量及稳定性的触控模块，触控模块在出厂前会经过一连串的测试来确保其触控功能的质量。从过往经验，生产流程中产线常因用于测试的电脑硬件过于老旧或电脑系统背景执行的程序太多，而造成测试的时间忽快忽慢。甚至可能造成产线反馈的测试时间远超过线下利用工程师的电脑测试时间所需的时间。藉此，必须研发有效缩短产品测试工时的技术。

发明内容

有鉴于此，本发明提供一种预录存储装置及线上测试系统，其可将测试信息预录在测试板上，并根据电脑运转效率判断是否要启动测试板测试触控模块。

本发明提供一种预录存储装置，连接测试装置。预录存储装置包括存储装置以及处理器。处理器耦接存储装置，经配置以决定是否启动预录存储装置的预录功能。其中决定是否启动该预录存储装置的预录功能包括：当存储装置具有第一测试信息，则处理器指示测试装置根据存储于存储装置的第一测试信息执行测试动作。若存储装置不具有第一测试信息，则处理器启动预录存储装置的预录功能。其中预录功能包括接收第二测试信息并将第二测试信息存储至存储装置，并指示测试装置根据第二测试信息执行测试动作。

在本发明的一实施例中，上述的决定是否启动该预录存储装置的预录功能更包括：当电脑运转效率低于一效率阈值时，该处理器检测该存储装置是否具有该第一测试信息。

在本发明的一实施例中，上述的处理器根据处理器使用率、存储器使用率、传输封包间隔时间以及测试时间其中之一或其组合计算电脑运转效率。

在本发明的一实施例中，上述的第一测试信息包括测试指令及测试数据，并且第二测试信息与第一测试信息为实质相同的测试信息。

在本发明的一实施例中，上述的测试装置适用于测试触控模块，且第一测试信息及第二测试信息关连于触控模块的测试条件。

在本发明的一实施例中，上述的处理器更针对存储装置存储的第一测试信息以及第二测试信息其中至少之一进行错误码校验检查。

在本发明的一实施例中，上述的存储装置设置在远端电子装置中。

本发明提供一种线上测试系统，用以测试至少一待测装置。线上测试系统包括测试装置以及预录存储装置。测试装置连接待测装置。预录存储装置连接测试装置，包括存储装置以及处理器，处理器经配置以决定是否启动预录存储装置的预录功能。其中决定是否启动预录存储装置的预录功能包括：当存储装置具有第一测试信息，则测试装置根据存储于存储装置的第一测试信息执行测试动作。若存储装置不具有第一测试信息，则处理器启动该预录存储装置的预录功能。其中预录功能包括接收第二测试信息并将第二测试信息存储至存储装置，并指示测试装置根据第二测试信息执行测试动作。

在本发明的一实施例中，决定是否启动预录存储装置的预录功能还包括：当电脑运转效率低于效率阈值时，处理器检测存储装置是否具有第一测试信息。

在本发明的一实施例中，第一测试信息包括测试指令及测试数据，并且第二测试信息与第一测试信息为实质相同的测试信息。