[发明专利]用于测试光敏设备降级的系统

说明书

公开了用于测试光敏设备降级的系统和方法。可以通过配置光敏设备测试系统来测试光敏设备随时间的性能，所述光敏设备测试系统包括将容器内的光敏设备暴露于指定光强度的光源板。光强度可以根据一个或多个阈值通过可编程电源来调节。测试可以持续设置的持续时间，并且在整个持续时间内以预定间隔进行性能测量。可以记录来自光敏设备测试系统的反馈，以确定是否增加光强度、停止测试、继续测试以及是否应当更改一个或多个环境条件。测量结果可以被发送到客户端进行分析和向用户显示。

本申请是申请号为201680065103.3，申请日为2016年9月26日，题为“用于测试光敏设备降级的系统和方法”的中国发明专利申请的分案申请。

技术领域

本申请一般而言涉及光敏设备降级系统，并且特别地涉及用于使用加速降级系统确定光敏设备随时间的性能的系统。

背景技术

使用光敏设备(诸如光伏(PV)或太阳能电池)从太阳能或辐射生成电力可以提供许多益处，包括例如电源、低或零排放、独立于电网的电力生产、耐用的物理结构(无移动零件)、稳定可靠的系统、模块化结构、相对快的安装、安全的制造和使用，以及良好的公众舆论和对使用的接纳。其它光敏设备还可以包括太阳能热电池、光电二极管、光敏电阻、光电容器、光电换能器和光电晶体管。

但是，这种光敏设备的故障可能会是昂贵的，并且可能需要大量的时间来更换或修理。在装运或安装之前对光敏设备进行测试可能会是昂贵的，甚至可能对光敏设备本身具有破坏性。因此，传统上将对光敏设备的样品进行测试，以确定给定光敏设备设计或配置的性能。

为了确定例如降级速率而对光敏设备进行的常规测试可以使用硫等离子体或白炽灯泡作为光源。在传统的降级测试中，光敏设备会曝光在灯泡下，并且偶尔会对面板的性能进行采样。这些系统通常将光敏设备在延长的时间段或者甚至持续延长的时间段内暴露于1太阳当量(sun equivalent)(1000W/m²光强度)或更小。光谱可以进一步根据美国材料与试验协会(ASTM)AM1.5G标准定义。期望减少总测试时间并增加确定光敏设备性能的准确度，以便降低光敏设备设计或配置的成本、缩短上市时间、为客户提供延长的担保，并确定投资回报。

本公开的特征和优点对于本领域技术人员而言将是明显的。虽然本领域技术人员可以做出许多改变，但这些改变在本发明的精神内。

发明内容

根据本公开的教导，可以减少和/或消除与常规光敏设备降级技术相关联的缺点和问题。例如，用于光敏设备的降级测试的一种方法包括初始化一个或多个降级测试参数。设置光源的光强度，其中光源使一个或多个光敏设备暴露于设置的光强度。对一个或多个光敏设备的像素请求像素性能测量，其中每个光敏设备的每个像素被映射到唯一的地址，并且其中像素性能测量至少部分地基于持续时间阈值来请求。接收像素性能测量结果并将其与性能等级(rating)阈值进行比较。至少部分地基于像素性能测量结果与性能等级阈值的比较来确定像素是否发生故障。与像素相关联的测试指示器被标记，其中测试指示器指示像素的故障的确定。确定是否需要进一步测试，其中确定是否需要进一步测试至少部分地基于与像素相关联的测试指示器。

在一个实施例中，如果确定像素已发生故障，则与像素相关联的光敏设备也被标记为发生故障或者可以被标记为发生故障，以代替将单独像素标记为发生故障。在一个实施例中，与像素相关联的光敏设备至少部分地基于像素故障阈值被标记为发生故障。

在一个实施例中，以预定时间间隔更改光强度直到达到光强度阈值。可以在每个预定时间间隔或者任何其它介于中间的或随后的时间间隔进行性能测量。

在一个实施例中，像素性能测量结果被存储在与容纳光敏设备的基板相关联的文件中，其中该光敏设备与像素相关联。像素性能测量结果可以针对被测试的每个单独像素或者针对被测试的像素的任意组合来存储。